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闭环伺服系统数控机床反馈装置可直接测量机床工作台的位移量。


参考答案

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考题 只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是()。 A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统数控机床

考题 只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是( )。 A: 开环伺服系统B: 半闭环伺服系统C: 闭环伺服系统D: 混合环伺服系统

考题 半闭环控制数控机床的检测装置可以直接检测工作台的位移量。() 此题为判断题(对,错)。

考题 下列叙述中,不正确的是( )。A.开环数控机床不带位置检测反馈装置B.半闭环数控机床的检测装置安装在机床工作台上C.闭环数控机床的反馈检测装置安装在机床工作台上D.半闭环数控机床的检测装置安装在电动机或丝杠的端头

考题 下列叙述中,错误的是()。A:开环数控机床不带位置检测反馈装置 B:半闭环数控机床的检测装置安装在机床工作台上 C:闭环数控机床的反馈检测装置安装在机床工作台上 D:半闭环数控机床的检测装置安装在电动机或丝杠的端头

考题 ()数控装置将位移指令与位置检测装置测得的实际位置反馈信号,随时进行比较、转换,得到伺服系统的速度指令。A、开环数控机床B、半开环数控机床C、闭环数控机床

考题 闭环伺服系统主要特征是机床()部件上装有直线位移检测装置,将测量的位移值反馈到()中。

考题 闭环伺服系统的数控机床上必须安装直接测量方式的位置检测装置。

考题 直接测量机床工作台位移量并反馈给数控装置的伺服系统是()A、开环伺服系统B、全闭环伺服系统C、半闭环伺服系统

考题 只有间接测量机床工件台的位移量的伺服系统是()。A、开环伺服系统的数控机床B、半闭环伺服系统的数控机床C、闭环伺服系统的数控机床D、混合环伺服系统数控机床

考题 数控机床由()组成。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、以上都是

考题 在数控机床闭环伺服系统中由速度比较调节器、速度反馈和速度检测装置所组成的反馈回路称为()。

考题 半闭环伺服系统数控机床中带有检测装置。

考题 下列关于数控机床组成的描述不正确的是()A、数控机床通常是由控制装置、数控系统、机床本体组成B、数控机床通常是由控制装置、数控装置、伺服系统、测量反馈装置、辅助控制装置和机床组成C、数控机床通常是由控制装置、数控系统、伺服系统、机床组成D、数控机床通常是由键盘、数控装置、伺服系统、测量反馈装置和机床组成

考题 数控机床按伺服系统分类可分为()。A、半开环控制数控机床B、反馈控制数控机床C、闭环控制数控机床D、无反馈控制数控机床

考题 控制系统不是直接测量工作台位移量,而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量,然后反馈给数控装置,这种伺服系统称为()。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统

考题 在()数控机床安装有检测反馈装置用。A、半闭环伺服系统中B、开闭环伺服系统中C、半闭环和全闭环伺服系统中D、只用在全闭环伺服系统中

考题 数控机床一般是由();()、伺服系统、机床本体和测量反馈装置组成。

考题 闭环伺服系统数控机床不直接测量机床工作台的位移量。

考题 数控机床伺服系统按对被控量有无检测反馈装置可分为()和()。

考题 填空题数控机床一般是由();()、伺服系统、机床本体和测量反馈装置组成。

考题 填空题数控机床按伺服类型分类,有开环伺服系统数控机床、闭环伺服系统数控机床和半闭环伺服系统数控机床以及()数控机床。

考题 判断题半闭环控制数控机床的检测装置可以直接检测工作台的位移量。A 对B 错

考题 判断题闭环伺服系统数控机床不直接测量机床工作台的位移量。A 对B 错

考题 单选题控制系统不是直接测量工作台位移量,而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量,然后反馈给数控装置,这种伺服系统称为()。A 开环伺服系统B 半闭环伺服系统C 闭环伺服系统

考题 单选题在()数控机床安装有检测反馈装置用。A 半闭环伺服系统中B 开闭环伺服系统中C 半闭环和全闭环伺服系统中D 只用在全闭环伺服系统中

考题 单选题只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是()A 开环伺服系统B 半闭环伺服系统C 闭环伺服系统D 混合环伺服系统数控机床