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闭环伺服系统数控机床不直接测量机床工作台的位移量。

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考题 只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是()。 A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统数控机床
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考题 数控机床类型不是按照伺服系统的控制方式分类的是( )。A．开环控制数控机床B．闭环控制数控机床C．轮廓控制数控机床D．半闭环控制数控机床
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考题 在工作台上安装有位置检测装置的数控机床,按其控制方式属于()。 A、闭环控制数控机床B、开环控制数控机床C、半闭环控制数控机床D、直线控制数控机床
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考题 只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是( )。 A: 开环伺服系统B: 半闭环伺服系统C: 闭环伺服系统D: 混合环伺服系统
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考题 半闭环控制数控机床的检测装置可以直接检测工作台的位移量。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 下列叙述中，不正确的是（ ）。A．开环数控机床不带位置检测反馈装置B．半闭环数控机床的检测装置安装在机床工作台上C．闭环数控机床的反馈检测装置安装在机床工作台上D．半闭环数控机床的检测装置安装在电动机或丝杠的端头
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考题 下列叙述中，错误的是()。A:开环数控机床不带位置检测反馈装置 B:半闭环数控机床的检测装置安装在机床工作台上 C:闭环数控机床的反馈检测装置安装在机床工作台上 D:半闭环数控机床的检测装置安装在电动机或丝杠的端头
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考题 数控机床的半闭环伺服系统中，用于角位移的检测元件通常有（）、（）、（）和（）。
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考题 （）数控装置将位移指令与位置检测装置测得的实际位置反馈信号，随时进行比较、转换，得到伺服系统的速度指令。A、开环数控机床B、半开环数控机床C、闭环数控机床
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考题 闭环伺服系统主要特征是机床（）部件上装有直线位移检测装置，将测量的位移值反馈到（）中。
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考题 闭环伺服系统的数控机床上必须安装直接测量方式的位置检测装置。
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考题 直接测量机床工作台位移量并反馈给数控装置的伺服系统是（）A、开环伺服系统B、全闭环伺服系统C、半闭环伺服系统
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考题 闭环伺服系统数控机床反馈装置可直接测量机床工作台的位移量。
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考题 什么是数控机床的闭环伺服系统？
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考题 只有间接测量机床工件台的位移量的伺服系统是（）。A、开环伺服系统的数控机床B、半闭环伺服系统的数控机床C、闭环伺服系统的数控机床D、混合环伺服系统数控机床
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考题 （）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
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考题 半闭环伺服系统数控机床中带有检测装置。
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考题 数控机床半闭环进给伺服系统的检测元件是（）A、角位移检测器B、直线位移检测器C、角速度检测器D、压力检测器
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考题 数控机床闭环进给伺服系统的检测元件是（）A、角位移检测器B、直线位移检测器C、角速度检测器D、压力检测器
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考题 什么是数控机床的半闭环伺服系统？
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考题 闭环伺服系统数控机床不直接测量机床工作台的位移量。
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考题 控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统
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考题 填空题数控机床按伺服类型分类，有开环伺服系统数控机床、闭环伺服系统数控机床和半闭环伺服系统数控机床以及（）数控机床。
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考题 单选题控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A 开环伺服系统B 半闭环伺服系统C 闭环伺服系统
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考题 判断题半闭环伺服系统数控机床直接测量机床工作台的位移量。A 对B 错
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考题 判断题半闭环控制数控机床的检测装置可以直接检测工作台的位移量。A 对B 错
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考题 判断题闭环伺服系统数控机床不直接测量机床工作台的位移量。A 对B 错
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考题 单选题只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是（）A 开环伺服系统B 半闭环伺服系统C 闭环伺服系统D 混合环伺服系统数控机床
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