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X射线荧光仪可进行()分析。


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考题 X射线荧光镀层厚度检测仪每次使用都需要采用20μm的标准片进行校准。

考题 电网设备的光谱分析检验常用哪种设备()A、看谱镜B、光电光谱分析仪C、手持式X射线光谱仪D、荧光光谱仪

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

考题 台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。

考题 原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

考题 原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

考题 以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

考题 利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时,分析铁基材料中Al时,不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。

考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

考题 X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 X射线荧光光谱仪分析原理是什么?

考题 X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

考题 在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

考题 X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

考题 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()。A、X射线衍射仪B、721分光光度计C、X射线荧光分析仪D、气相色谱

考题 X一射线荧光分析仪可测定宝石的化学成分和含量。

考题 提拉法合成的变石与变石较难区分,但前者不含水,后者常含微量水,用以下那种仪器可区分?()。A、红外光谱仪B、电子探针C、X射线荧光分析仪

考题 鉴定宝石包裹体的有效仪器是:()A、X-射线荧光分析仪   B、拉曼探针     C、阴极发光仪    D、红外光谱仪

考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

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考题 单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法

考题 问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

考题 判断题原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错