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X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。

参考答案

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考题 X射线荧光定量分析方法有（）和（）两大类。
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
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考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与（）无关。
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考题 影响X射线强度的因素，正确的是（）A、X射线强度与管电压成正比B、X射线强度与管电压成反比C、X射线强度与靶物质原子序数成反比D、管电流与产生的X射线光子数量成反比E、X射线强度与X射线波长成正比
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考题 用一般光学分光仪不能获得X射线谱的原因是：（）A、X射线是不可见光B、X射线强度太大C、X，射线波长秀短，在介质中几乎不发生色散D、X射线有荧光效应
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考题 X射线照片图像形成过程中，起作用的是（）.A、X射线的穿透作用B、X射线的荧光作用C、被照体对X射线吸收衰减的差异D、X射线的光化学作用
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考题 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？
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考题 问答题特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同？某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线？
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考题 判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A 对B 错
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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考题 单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法
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考题 单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错
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