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用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）

  • A、Si-PIN探测器
  • B、Si（Li）探测器
  • C、硅漂移探测器（SDD）
  • D、正比计数器

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考题 X射线荧光光谱仪探测器的能量分辨率主要是以（）表示。
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考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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考题 在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。A、混合B、特征C、连续D、散射
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考题 能量色散型X射线荧光光谱仪利用（）进行定性分析。A、脉冲数/秒B、能谱图峰位（脉冲高度）C、能谱图的峰高D、透光度
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考题 能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。A、谱平滑B、背景拟合扣除C、重叠峰的拟合D、分离
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考题 能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。
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考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
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考题 X射线荧光光谱仪流气探测器高压一般为（），闪烁探测器高压一般为（）。
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考题 X射线波长色散和能量色散是建立在（）和（）基础上的。
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考题 X射线荧光光谱仪探测器的作用是：（）。
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考题 X射线荧光光谱仪探测器的主要技术指标是（）。
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考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
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考题 简述能量色散X射线荧光分析中的干扰因素？
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考题 简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
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考题 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度
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考题 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能够产生X射线的仪器是（）。A、X射线衍射仪B、721分光光度计C、X射线荧光分析仪D、气相色谱
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考题 X一射线荧光分析仪可测定宝石的化学成分和含量。
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