考题
只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是()。
A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统D、混合环伺服系统数控机床
考题
数控机床普通闭环控制系统要求测量元件能测量的最小位移为()mm。
A、0.001～0.01B、0.001～0.02C、0.001～0.05D、0.001～0.1
考题
用光电编码器作测量反馈元件的系统一般是()
A、半闭环系统B、开环系统C、全闭环系统D、单闭环系统
考题
只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是( )。
A: 开环伺服系统B: 半闭环伺服系统C: 闭环伺服系统D: 混合环伺服系统
考题
数控机床的半闭环伺服系统中，用于角位移的检测元件通常有（）、（）、（）和（）。
考题
为了提高机床的工作精度，通常采用检测元件构成反馈系统。将检测元件安装在丝杠端则构成了（）。A、开环系统B、闭环系统C、随动系统D、半闭环系统
考题
检测刀架实际位移的系统为（）系统。A、开环B、闭环C、半闭环
考题
直接测量机床工作台位移量并反馈给数控装置的伺服系统是（）A、开环伺服系统B、全闭环伺服系统C、半闭环伺服系统
考题
半闭环控制系统是在司服机构中装有直线位移检测装置。
考题
只有间接测量机床工件台的位移量的伺服系统是（）。A、开环伺服系统的数控机床B、半闭环伺服系统的数控机床C、闭环伺服系统的数控机床D、混合环伺服系统数控机床
考题
长光栅和圆光栅作为测量元件（）。A、均为非接触式测量B、均有标尺光栅和指示光栅C、莫尔条纹的形状相同D、均可用于半闭环CNC系统
考题
数控机床半闭环进给伺服系统的检测元件是（）A、角位移检测器B、直线位移检测器C、角速度检测器D、压力检测器
考题
闭环系统使用的位移测量元件是（）A、脉冲编码器B、光栅尺C、旋转变压器D、感应同步器E、磁栅尺
考题
控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A、开环伺服系统B、半闭环伺服系统C、闭环伺服系统
考题
半闭环控制系统通常在机床的运动部件上直接安装位移测量装置。
考题
不带有位移检测反馈的伺服系统称半闭环控制系统。
考题
在半闭环位置伺服系统中常用光电编码盘测量电机转速和（）。A、扭矩B、电流C、温升D、角位移
考题
步进电机常用于（）控制系统中作执行元件。A、闭环B、半闭环C、开环D、前馈
考题
关于伺服控制下列说法中错误的是（）A、闭环系统的精度最高B、开环系统一般采用步进电机驱动C、闭环和半闭环系统都有位置检测元件D、半闭环系统的检测元件安装在传动链的最终执行部件上
考题
单选题在半闭环位置伺服系统中常用光电编码盘测量电机转速和（）。A
扭矩B
电流C
温升D
角位移
考题
判断题半闭环控制系统通常在机床的运动部件上直接安装位移测量装置。A
对B
错
考题
单选题关于伺服控制下列说法中错误的是（）A
闭环系统的精度最高B
开环系统一般采用步进电机驱动C
闭环和半闭环系统都有位置检测元件D
半闭环系统的检测元件安装在传动链的最终执行部件上
考题
单选题控制系统不是直接测量工作台位移量，而是通过检测丝杠转角间接地测量工作台位移量，然后反馈给数控装置，这种伺服系统称为（）。A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统
考题
判断题半闭环伺服系统数控机床直接测量机床工作台的位移量。A
对B
错
考题
单选题只有间接测量机床工作台的位移量的伺服系统是（）A
开环伺服系统B
半闭环伺服系统C
闭环伺服系统D
混合环伺服系统数控机床