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以下有关内部散射线和外部散射线的说法错误的是（）
- A、由于工件内部形成的散射线称内部散射线
- B、工件以外物体形成的散射线称外部散射线
- C、射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自工件以外物体形成的外部散射线
- D、射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自被透照工件本身的内部散射
参考答案
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考题
以下说法不正确的是A.散射线的抑制常采用遮线器和滤过板。B.散射线的消除常采用空气间隙法和滤线栅法。C.散射线可以完全避免。D.散射线量的多少，主要与原发射线的能量有关。E.散射线量还与被照体的厚度、面积有关。
考题
对管电压和散射线的叙述，错误的是A.散射线含有率随管电压升高而加大B.管电压升高，散射线光子的散射角变小C.散射角越小的散AT线光子能量越小D.散射角越大的散射线产生胶片灰雾机会越小E.90kV以上时，散射线含有率趋向平稳
考题
以下观点，不正确的是A．散射线的抑制常采用遮线器和滤过板B．散射线的消除常采用空气间隙法和滤线栅法C．散射线可以完全避免D．散射线量的多少，主要与原发射线的能量有关E．散射线量还与被照体的厚度、面积有关
考题
以下有关环焊缝双壁单影透照的说法正确的是（）A、射线源放在工件外侧，而将胶片贴在射线源对面的工件外侧B、射线束透过工件的双层壁厚C、环焊缝源在外双壁单影透照技术较多地应用于管道射线照相检验中D、以下都对
考题
以下有关γ射线探伤的说法错误的是（）A、γ射线源的能量是否适当直接影响到检验的灵敏度B、在γ射线探伤中，应选取放射性比活度较小的源。C、过短的半衰期会给使用带来不利的影响D、以上不全对
考题
有关射线机冷却部分的以下说法错误的是（）A、冷却是保证X射线机能否长期使用的关键B、携带式X射线机常采用冲油冷却方式C、移动X射线机多采用冲油冷却方式D、气体绝缘X射线机用六氟化硫（SF6）气体作绝缘介质
考题
有关散射比的说法错误的是（）A、散射比定义为散射线能量与一次射线能量之比B、散射比定义为散射线强度与一次射线强度之比C、与一次射线相比，散射线能量减小，波长变长，运动方向改变D、以上不全对
考题
关于影像放大的以下说法错误的是（）A、影像放大是指在胶片上形成的影像的尺寸大于形成影像的物体的尺寸B、影像放大与射线源尺寸无关C、影像放大的程度与射线源至被透照物体的距离有关D、影像放大的程度与影像所表示的物体和胶片的距离有关
考题
有关X射线机的以下说法正确的是（）A、X射线机管电压调节是通过高压变压器来实现的B、X射线管管电流调节是通过调节灯丝加热电流来实现的C、X射线管管电流调节是通过调节输入电流来实现的D、以上都对
考题
单选题有关散射比的说法错误的是（）A
散射比定义为散射线能量与一次射线能量之比B
散射比定义为散射线强度与一次射线强度之比C
与一次射线相比，散射线能量减小，波长变长，运动方向改变D
以上不全对
考题
单选题以下有关内部散射线和外部散射线的说法错误的是（）A
由于工件内部形成的散射线称内部散射线B
工件以外物体形成的散射线称外部散射线C
射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自工件以外物体形成的外部散射线D
射线照相时，到达胶片的散射线，最主要是来自被透照工件本身的内部散射
考题
单选题关于射线探伤的特点，下列说法错误的是（）。A
X射线和r射线能穿透物质并被物质吸收而使自己强度增加B
X射线和r射线不带电荷，不受电场和磁场的影响C
X射线和r射线能产生光化学作用，使胶片感光D
X射线和r射线能使物质电离，使某些物质产生荧光
考题
单选题以下有关γ射线探伤的说法错误的是（）A
γ射线源的能量是否适当直接影响到检验的灵敏度B
在γ射线探伤中，应选取放射性比活度较小的源。C
过短的半衰期会给使用带来不利的影响D
以上不全对
考题
单选题射线和超声检测主要用于（）缺陷的检测。A
内部B
外部C
全部D
部分
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