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光谱定量分析的依据是谱线的波长。


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考题 光谱干扰是指()。A、可见光的干扰B、由于分辨率不够,相邻波长未完全分离,造成谱线重叠,从而可能对测量结果产生影响、相邻波长的干扰

考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 下列有关原子发射光谱分析发的叙述不正确的是:()A、要判断某元素是否存在,至少应有2-3条灵敏线出现B、光谱线的自吸现象对发射光谱定量分析影响很大C、分析线中必须包含着最后线D、谱线的灵敏度标记数字越大,说明谱线越灵敏

考题 在光栅光谱中,下列描述正确的是()A、级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越宽B、级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越窄C、级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越窄D、级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越宽

考题 某元素的特征光谱中含有波长λ1=450nm和λ2=750nm的光谱线,在光栅光谱中,这两种波长的谱线有重叠现象,重叠处的谱线λ2主极大的级数将是()A、2,3,4,5,…B、2,5,8,11,…C、2,4,6,8,…D、3,6,9,12,…

考题 用发射光谱进行定性分析时,作为谱线波长的比较标尺的元素是()。A、钠B、碳C、铁D、硅

考题 在发射光谱法中谱线自吸对光谱定量分析有何影响?

考题 原子发射光谱是利用谱线的波长及其强度进行定性何定量分析的,被激发原子发射的谱线不可能出现的光区是()A、紫外;B、可见;C、红外;D、不确定

考题 在原子发射光谱摄谱法定性分析时采用哈特曼光阑是为了()。A、控制谱带高度B、同时摄下三条铁光谱作波长参比C、防止板移时谱线产生位移D、控制谱线宽度

考题 光谱定性分析的依据是谱线的()

考题 发射光谱分析是根据各种元素激发后所产生的()来进行定性分析的,是根据谱线强度来进行定量分析的。

考题 下列各种说法中错误的是()。A、原子发射光谱分析是靠识别元素特征谱线来鉴别元素的存在B、对于复杂组分的分析我们通常以铁光谱为标准,采用元素光谱图比较法C、原子发射光谱是线状光谱D、原子发射光谱主要依据元素特征谱线的高度进行定量分析

考题 用发射光谱进行元素定性分析时,作为谱线波长比较标尺的元素是()A、钠B、碳C、铜D、铁

考题 谱线自吸对光谱定量分析有何影响?

考题 光谱定量分析确定元素含量的根据是()A、特征谱线B、灵敏线C、最后线D、元素的谱线强度

考题 设某元素的特征光谱中含有波长分别为λ1=450nm和λ2=750nm的两条光谱线,当用一光栅常数(a+b)=5.00×10-6m的光栅观测其光谱时,发现这两种波长的谱线有重叠现象,在下列结果中,正确描述重叠处λ2谱线级数的是()。A、2,3,4,…B、2,5,8,…C、3,6D、3,6,9,…

考题 在氢原子光谱中,赖曼系(由各激发态跃迁到基态所发射的各谱线组成的谱线系)的最短波长的谱线所对应的光子能量为()eV;巴耳末系的最短波长的谱线所对应的光子的能量为()eV。

考题 在光谱定量分析中,lgI-lgc关系曲线,若上部分向下弯曲,其原因是()A、谱线产生自吸B、光谱干扰C、背景增大D、化学干扰增大

考题 发射光谱半定量分析的方法有谱线强度比较法和()

考题 发射光谱定量分析的基本公式I=aCb,其中b值与下列哪个因素有关?()A、光谱类型B、试样蒸发激发过程C、试样组成D、谱线的自吸

考题 单选题光谱定量分析确定元素含量的根据是()A 特征谱线B 灵敏线C 最后线D 元素的谱线强度

考题 单选题在光栅光谱中,下列描述正确的是()A 级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越宽B 级次越高,各种波长谱线展得越开,谱线越窄C 级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越窄D 级次越高,各种波长谱线越展不开,谱线越宽

考题 单选题在光谱定量分析中,lgI-lgc关系曲线,若上部分向下弯曲,其原因是()A 谱线产生自吸B 光谱干扰C 背景增大D 化学干扰增大

考题 问答题谱线自吸对光谱定量分析有何影响?

考题 填空题发射光谱半定量分析的方法有谱线强度比较法和()

考题 单选题下列有关原子发射光谱分析发的叙述不正确的是:()A 要判断某元素是否存在,至少应有2-3条灵敏线出现B 光谱线的自吸现象对发射光谱定量分析影响很大C 分析线中必须包含着最后线D 谱线的灵敏度标记数字越大,说明谱线越灵敏

考题 单选题下列各种说法中错误的是()。A 原子发射光谱分析是靠识别元素特征谱线来鉴别元素的存在B 对于复杂组分的分析我们通常以铁光谱为标准,采用元素光谱图比较法C 原子发射光谱是线状光谱D 原子发射光谱主要依据元素特征谱线的高度进行定量分析