考题
全闭环系统一般利用()检测出溜板的实际位移量反馈给数控系统。
A、光栅B、广电脉冲圆编码器C、感应开关
考题
用光电编码器作测量反馈元件的系统一般是()
A、半闭环系统B、开环系统C、全闭环系统D、单闭环系统
考题
下列哪种数控系统没有检测装置?()
A.半闭环数控系统B.开环数控系统C.全闭环数控系统D.闭环数控系统
考题
（）可分为开环控制、半闭环控制和全闭环控制。A、数控装置B、伺服系统C、测量反馈装置D、控制器
考题
下列（）数控系统没有检测装置。A、半闭环数控系统B、开环数控系统C、全闭环数控系统D、以上都不正确
考题
半闭环数控系统的测量装置一般为光栅，磁尺等。
考题
闭环数控系统，要求对机床工作台（或刀架）的位移有（）和（）装置。
考题
全闭环数控系统的检测反馈装置中的检测元件通常安装在（）部位。A、伺服电动机B、丝杠C、机床工作台D、步进电机
考题
在全闭环数控系统中，用于位置反馈的元件是（）。
考题
脉冲增量插补法适用于以步进电动机为驱动装置的（）数控系统。A、半闭环B、不用C、闭环D、开环
考题
目前数控装置的脉冲当量（即每轮出一个脉冲后滑板的移动量）一般为0.01mm，高精度的数控系统可达0.001mm。
考题
目前数控装置的脉冲当量（即每轮出一个脉冲后滑板的移动量）一般为0.01mm，高精度的数控系统可达0.001。
考题
闭环或定环伺服系统只接收数控系统发出的指令脉冲，执行情况系统无法控制。
考题
闭环控制方式的移位测量元件应采用（）。A、长光栅尺B、旋转变压器C、圆光栅D、光电式脉冲编码器
考题
全闭环数控系统的测量装置一般为光电脉冲圆编码器。
考题
数控全闭环系统一般利用（）检测出溜板的实际位移量反馈给数控系统
考题
全闭环数控系统的测量装置一般为光电脉冲编码器。
考题
（）进给伺服系统不需要测量装置。A、开环B、半闭环C、全闭环D、以上都需要
考题
在FANUC 15数控系统中，对进给电机实现全闭环或半闭环控制的功能模块是（）
考题
判断题全闭环数控系统的测量装置一般为光电脉冲编码器。A
对B
错
考题
单选题（）进给伺服系统不需要测量装置。A
开环B
半闭环C
全闭环D
以上都需要
考题
单选题闭环控制方式的移位测量元件应采用（）。A
长光栅尺B
旋转变压器C
圆光栅D
光电式脉冲编码器
考题
填空题增量式光电脉冲编码器在数控机床检测装置的应用方面有（）、（）、手动位置检测和半闭环进给位置检测等功能。
考题
单选题下列（）数控系统没有检测装置。A
半闭环数控系统B
开环数控系统C
全闭环数控系统D
以上都不正确
考题
单选题下列哪种数控系统没有检测装置？（）A
开环数控系统B
全闭环数控系统C
半闭环数控系统D
以上都不正确
考题
判断题全闭环伺服系统所用位置检测元件是光电脉冲编码器。A
对B
错