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半闭环数控系统的测量装置一般为光栅，磁尺等。

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考题 数控系统为了检测回转刀架的工位,可在检测轴上装()。 A、角度编码器B、光栅C、磁尺
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考题 闭环伺服系统与半闭环伺服系统的位置检测装置可以分别采用()。 A、闭环：绝对式脉冲编码器;半闭环：感应同步器B、闭环：光栅;半闭环：增量式脉冲编码器C、闭环：增量式脉冲编码器;半闭环：光栅D、闭环：光栅;半闭环：感应同步器
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考题 下列哪种数控系统没有检测装置?() A.半闭环数控系统B.开环数控系统C.全闭环数控系统D.闭环数控系统
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考题 闭环数控系统比半闭环数控系统调试要方便。
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考题 下列（）数控系统没有检测装置。A、半闭环数控系统B、开环数控系统C、全闭环数控系统D、以上都不正确
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考题 开环控制系统用于（）样的机床。A、经济开环—无检测装置B、标准闭环—光栅尺C、精密半闭环—回转式D、加工中心闭环—光栅尺
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考题 半闭环控制的数控机床常用的位置检测装置是（）。A、光栅B、脉冲编码器C、磁栅D、感应同步器
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考题 半闭环系统使用的位移测量元件是（）。A、脉冲编码器B、光栅尺C、旋转变压器D、感应同步器E、磁栅尺
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考题 线位移测量装置有（）A、直线磁栅B、长光栅C、直线式感应同步尺D、脉冲编码器
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考题 脉冲增量插补法适用于以步进电动机为驱动装置的（）数控系统。A、半闭环B、不用C、闭环D、开环
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考题 数控系统为了检测刀盘上的工位，可在检测轴上安装_______。A、角度编码器B、光栅C、磁尺
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考题 用于半闭环控制的位置检测元件多用（）。A、磁栅尺B、光栅尺C、感应同步器D、光电编码器
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考题 数控编程数控系统为了检测刀盘的工位，可在检测轴上安装（）。A、角度编码器B、光栅C、磁尺
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考题 在全闭环数控系统中，用于位置反馈的元件是（）A、 光栅尺B、 圆光栅C、 旋转变压器D、 圆感应同步器
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考题 下列检测装置中，用于直接测量角位移的是（）A、光栅尺B、磁栅尺C、旋转编码器D、以上都不对
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考题 长光栅和圆光栅作为测量元件（）。A、均为非接触式测量B、均有标尺光栅和指示光栅C、莫尔条纹的形状相同D、均可用于半闭环CNC系统
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考题 全闭环数控系统的测量装置一般为光电脉冲圆编码器。
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考题 闭环系统使用的位移测量元件是（）A、脉冲编码器B、光栅尺C、旋转变压器D、感应同步器E、磁栅尺
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考题 数控机床上用的（），是利用两个光栅相互重叠时形成的莫尔条纹现象，制成的光电式位移测量装置。A、磁栅B、旋转变压器C、光栅尺
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考题 全闭环数控系统的测量装置一般为光电脉冲编码器。
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考题 被测量为直线位移，应选尺状的直线位移传感器，如（）等。A、旋转变压器B、光栅尺C、磁尺D、直线感应同步器
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考题 判断题全闭环数控系统的测量装置一般为光电脉冲编码器。A 对B 错
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考题 单选题在全闭环数控系统中，用于位置反馈的元件是（）A 光栅尺B 圆光栅C 旋转变压器D 圆感应同步器
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考题 填空题数控机床常用的位置检测装置有（）、同步感应器、光栅尺、磁栅、编码盘等。
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考题 多选题被测量为直线位移，应选尺状的直线位移传感器，如（）等。A旋转变压器B光栅尺C磁尺D直线感应同步器
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考题 单选题下列（）数控系统没有检测装置。A 半闭环数控系统B 开环数控系统C 全闭环数控系统D 以上都不正确
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考题 单选题下列哪种数控系统没有检测装置？（）A 开环数控系统B 全闭环数控系统C 半闭环数控系统D 以上都不正确
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