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根据X射线机的X射线束辐射角θ,计算透照场范围的公式为()。
- A、D=2F•tg(θ/2)
- B、D=2tg(θ/2F.
- C、D=F•tg(θ/2)
- D、D=2tg(F•θ/2)
参考答案
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考题
镜头的焦距为f,摄像机靶面尺寸为:水平尺寸h及垂直尺寸υ,则镜头的水平视场角ah=()以内。A.2arctg(υ/2f)B.2arctg(h/2f)C.arctg(υ/2f)D.arctg(h/2f)
考题
已知f(x)是二阶可导的函数,y=e2f(x),
A. e2f(x) B. e2f(x)f''(x)
C. e2f(x)[2f'(x)] D.2e2f(x) {2[f'(x)]2+f''(x)}
考题
波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3...,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的射线与晶面的夹角)满足的公式为:
(A)2dsinθ=kλ (B)dsinθ=kλ(C)2dcosθ=kλ (D)2dcosθ=kλ
考题
波长为λ的x射线,投射到晶格常数为d的晶体上。取k=1,2,3,…,出现x射线衍射加强的衍射角θ(衍射的x射线与晶面的夹角),满足的公式为( )。A.2dsinθ=kλ
B.dsinθ=kλ
C.2dcosθ=kλ
D.dcosθ=kλ
考题
波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:
A. 2dsinθ=kλ
B. dsinθ=kλ
C. 2dcosθ=kλ
D. dcosθ=kλ
考题
已知f(x)是二阶可导的函数,y=e2f(x),则dy2/dx2为:
A. e2f(x)
B. e2f(x)f''(x)
C. e2f(x)[2f'(x)]
D.2e2f(x) {2[f'(x)]2+f''(x)}
考题
设随机变量X的概率密度和分布函数分别是f(x)和F(x),且f(x)=f(-x),则对任意实数a,有F(-a)=()A、1/2-F(a)B、1/2+F(a)C、2F(a)-1D、1-F(a)
考题
平板工件X射线照相,若透照厚度比满足1.1,则透照一次的有效长度可用()式计算(式中:L-透照有效长度;F-焦距)A、L=2(0.21)1/2FB、F=2(0.21)1/2LC、L=2(0.21F)1/2D、L=(0.21)1/2F
考题
对厚度为15MM,直径1000MM的筒体的对接环缝照相,较理想的选择是()A、IR192γ源,中心透照法B、锥靶周向X射线机,中心透照法C、单向X射线机D、平靶周向X射线机,中心透照法
考题
用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰,需要先在试验电源正、反相两种极性下,测量两组数据:C1tgδ1、C2tgδ2,然后按公式()计算出试品的实际的tgδ值。A、tgδ=(tgδ1+tgδ2)/2B、tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1-C2)C、tgδ=(C1tgδ1+C2tgδ2)/(C1+C2)D、tgδ=(C2tgδ1+C1tgδ2)/(C1+C2)
考题
单选题(2007)波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:()A
2dsinθ=KλB
dsinθ=KλC
2dcosθ=KλD
dcosθ=Kλ
考题
单选题对厚度为15MM,直径1000MM的筒体的对接环缝照相,较理想的选择是()A
IR192γ源,中心透照法B
锥靶周向X射线机,中心透照法C
单向X射线机D
平靶周向X射线机,中心透照法
考题
单选题平板工件X射线照相,若透照厚度比满足1.1,则透照一次的有效长度可用()式计算(式中:L-透照有效长度;F-焦距)A
L=2(0.21)1/2FB
F=2(0.21)1/2LC
L=2(0.21F)1/2D
L=(0.21)1/2F
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