考题
超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法
考题
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次()A.缺陷回波
B.迟到回波
C.底面回波
D.侧面回波
考题
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
考题
采用水浸法探伤时，根据（）产生的回波情况进行缺陷评定。A、第一次表面回波之前和第二次表面回波之后B、第一次表面回波和第二次表面回波之间C、多次回波D、以上都不对
考题
斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波，底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在
考题
在用直探头进行水浸法探伤时，探头至探测面的水层距离应调节在使一次与二次界面回波之间至少出现一次（）A、缺陷回波B、迟到回波C、底面回波D、侧面回波
考题
钢板厚为30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为15mm时，则第三次底面回波显示于（）A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定
考题
水浸法纵波探伤时，水距的选择应当是（）A、第二次界面回波落在第一次底波之后B、第二次界面回波落在第一次底波之前C、第二次界面可处于任何位置
考题
对于小于声束截面的缺陷可用（）评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法
考题
检测厚钢板采用垂直法探伤时，根据（）前后产生的回波情况进行缺陷评定。A、第一次底波B、第二次底波C、多次底波D、缺陷的水平距离
考题
钢板探伤中可根据（）判断缺陷是否存在。A、参考回波减弱B、缺陷回波C、底波D、以上都对
考题
斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波
考题
对水浸法探伤，水层厚度的调整，一般应使界面二次回波落在试件一次底面回波之（）。A、前B、后C、中D、始波后
考题
盲区最小的探伤方法是（）A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法
考题
大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
考题
纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
考题
判断题多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。A
对B
错
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试件时，探测图形中（）。A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波时底面回波消失D
有大型缺陷回波时有底面回波
考题
单选题水浸法纵波探伤时，水距的选择应当是（）A
第二次界面回波落在第一次底波之后B
第二次界面回波落在第一次底波之前C
第二次界面可处于任何位置
考题
单选题超声波探伤中，没有探测盲区的探伤方法是（）A
反射法B
穿透法C
底面多次回波法D
底面一次回波反射法法
考题
填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
考题
单选题钢板厚为30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为15mm时，则第三次底面回波显示于（）A
二次界面回波之前B
二次界面回波之后C
一次界面回波之前D
不一定
考题
单选题对水浸法探伤，水层厚度的调整，一般应使界面二次回波落在试件一次底面回波之（）。A
前B
后C
中D
始波后
考题
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
考题
单选题盲区最小的探伤方法是（）A
缺陷回波法B
底面多次回波法C
透过波高度法D
表面波法
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波，底面回波消失D
缺陷回波和底面回波同时存在