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双晶直探头相当于一个粗糙的聚焦探头，探头中两个晶片的倾角越大则探测深度越大

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考题 按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1
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考题 在实际检测中，常用的探头有（）、（）、双晶探头、聚焦探头等。
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考题 双晶片直探头适用于检查（）A、饼类锻件B、环类锻件C、中厚板D、以上都可以
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考题 双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
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考题 以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（）A、工作频率B、晶片尺寸C、探测深度D、近场长度
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考题 根据波型不同，探头分为（）。 A、 接触式探头和液浸探头B、 纵波探头和横波探头C、 聚焦探头和非聚焦探头D、 单晶探头和双晶探头
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考题 直探头中阻尼块的作用是（）。A、对晶片振动起阻尼作用B、吸收晶片背面发出的杂波C、对晶片起支撑作用D、以上都是
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考题 JB/T4730.3－2005《承压设备无损检测》标准规定，对不锈钢堆焊层超声检测可采用的探头类型为（）。A、 直探头、纵波斜探头、横波斜探头B、 双晶探头、纵波斜探头、横波斜探头C、 双晶探头、直探头、纵波斜探头、纵波双晶斜探头D、 双晶探头、直探头、横波斜探头
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考题 双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，覆盖区愈大。
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考题 组合双晶直探头的压电晶片前装有（）A、阻尼块B、匹配线圈C、延迟块D、保护膜
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考题 聚焦探头的焦点尺寸与晶片直径、波长和焦距有关，晶片直径（），波长（），焦距（），则焦点小。
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考题 检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A、 直探头B、 双晶探头C、 横波斜探头D、 聚焦探头
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考题 探头晶片尺寸越大，其指向角（）。A、越大B、越小C、不变D、以上都不对
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考题 探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。
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考题 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列斜探头
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考题 探头型式有直探头、（）、表面波探头、双晶探头等。
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考题 探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。A、聚焦探头B、直探头C、斜探头D、串列双斜探头
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考题 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
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考题 填空题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于（）缺陷的探测。
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考题 判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A 对B 错
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考题 填空题双晶片联合探头，由于盲区小，因此有利（）缺陷的探测。
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考题 判断题双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，复盖区愈大。A 对B 错
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考题 单选题检测与焊接接头垂直或成一定角度的缺陷，最好采用（） 。A  直探头B  双晶探头C  横波斜探头D  聚焦探头
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考题 单选题根据波型不同，探头分为（）。A  接触式探头和液浸探头B  纵波探头和横波探头C  聚焦探头和非聚焦探头D  单晶探头和双晶探头
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考题 单选题组合双晶直探头的压电晶片前装有（）A 阻尼块B 匹配线圈C 延迟块D 保护膜
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考题 单选题以下哪一条，不属于双晶探头的性能指标（）A 工作频率B 晶片尺寸C 探测深度D 近场长度
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