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透射电镜分析的应用。用透射电镜能否观察形貌?怎样处理?

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考题 对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

考题 透射电镜的两种主要功能是检测()。A、表面形貌和晶体结构B、内部组织和晶体结构C、表面形貌和内部组织

考题 关于正常成熟红细胞结构,下列错误的是A、 红细胞只需其胞膜的60%~70%即足以包含其内含物,膜的盈余保证其易于伸展变形B、 平均厚度约2μmC、 透射电镜观察,各种细胞器已全部消失D、 透射电镜观察可见少量的血红蛋白颗粒

考题 为什么透射电镜和扫描电镜对样品厚度与大小的要求有如此大的差异?能否用扫描电镜来观察样品的内部结构,而用透射电镜来观察样品的表面结构?

考题 电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是()A、普通透射电镜B、普通扫描电镜C、超高压电镜D、扫描透射电镜E、扫描隧道显微镜

考题 下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A、透射电镜B、扫描电镜C、扫描隧道显微镜D、超高压透射电镜

考题 下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A、透射电镜B、扫描电镜C、扫描隧道显微镜D、超高压透射电镜E、原子力显微镜

考题 人们需要观察立体感很强的细胞内的三度(维)空间的微细结构,需要()技术。A、光镜技术B、透射电镜C、扫描电镜D、超高压透射电镜E、免疫荧光镜技术

考题 不必用超薄切片,不经染色而能观察较厚标本的电镜是()A、一般透射电镜B、扫描透射电镜C、扫描电镜D、超高压电镜

考题 电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是()A、普通透射电镜B、普通扫描电镜C、超高压电镜D、扫描透射电镜E、分析扫描电镜

考题 扫描电镜术观察到的是(),透射电镜技术观察到的是()。

考题 问答题分别从原理、衍射特点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。

考题 判断题透射电镜能观察表面粗糙的试样。A 对B 错

考题 单选题透射电镜的两种主要功能()A 表面形貌和晶体结构B 内部组织和晶体结构C 表面形貌和成分价键D 内部组织和成分价键

考题 问答题透射电镜对样品有什么要求?透射电镜粉末样品和薄膜样品如何制备?

考题 问答题透射电镜分析的应用,用透射电镜能否观察形貌?

考题 单选题人们需要观察立体感很强的细胞内的三度(维)空间的微细结构,需要()技术。A 光镜技术B 透射电镜C 扫描电镜D 超高压透射电镜E 免疫荧光镜技术

考题 问答题请简述透射电镜与扫描电镜进行形貌成像时的差别。

考题 单选题透射电镜成形貌像时是将()A 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C 关闭中间镜D 关闭物镜

考题 单选题下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A 透射电镜B 扫描电镜C 扫描隧道显微镜D 超高压透射电镜

考题 问答题指出下列叙述中的错误,并予以改正:“对材料AmBn的研究方法是:用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定;用扫描电镜对材料进行物相分析,确定其晶体学参数;用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。

考题 问答题透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形成形貌像?该像是如何改善衬度的?

考题 填空题扫描电镜术观察到的是(),透射电镜技术观察到的是()。

考题 多选题在扫描电镜分析中()A成分像能反映成分分布信息,形貌像和二次电子像反映形貌信息B所有扫描电镜像,只能反映形貌信息C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮,平坦和凹谷处最暗D扫描电镜分辨率比透射电镜高

考题 单选题电子散射少、对样品损伤小、可用于观察活细胞的电子显微镜是()A 普通透射电镜B 普通扫描电镜C 超高压电镜D 扫描透射电镜E 分析扫描电镜

考题 单选题表面形貌分析的手段包括()A X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)B SEM和透射电镜(TEM)C 波谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS)D 扫描隧道显微镜(STM)和SEM

考题 单选题下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A 透射电镜B 扫描电镜C 扫描隧道显微镜D 超高压透射电镜E 原子力显微镜