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单选题
tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。
A

良好绝缘

B

绝缘中存在气隙

C

绝缘受潮

参考答案

参考解析
解析： 暂无解析
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考题 当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
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考题 当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。
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考题 tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。A、良好绝缘B、绝缘中存在气隙C、绝缘受潮
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考题 判断题对于良好绝缘的Tan6测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。A 对B 错
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考题 单选题tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）A 良好绝缘B 绝缘中存在气隙C 绝缘受潮
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考题 单选题于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。A 升高B 降低C 基本不变
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