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单选题
射线透射检验时，工件中靠近射线源的缺陷，在（）的情况下，清晰度降低。
A

工件厚度减小

B

焦点尺寸减小

C

工件厚度增加

D

焦距增大

参考答案

参考解析
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考题 对环焊缝作源在外的单壁透照时，确定透照次数与（）相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
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考题 影响几何不清晰度的主要原因是（）。A、射线源的焦点尺寸、焦距B、缺陷至胶片距离C、焦点至缺陷的距离D、以上都是
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考题 射线检验是利用射线穿过材料或工件时的能量衰减来检测其内部缺陷。
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考题 射线照相的几何不清晰度Ug与焦点的大小成反比，与射线源到工件表面的距离成正比。
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考题 以下有关环焊缝双壁单影透照的说法正确的是（）A、射线源放在工件外侧，而将胶片贴在射线源对面的工件外侧B、射线束透过工件的双层壁厚C、环焊缝源在外双壁单影透照技术较多地应用于管道射线照相检验中D、以下都对
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考题 工件中靠射线源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差？（）A、焦距增大B、焦点尺寸减小C、工件厚度增大D、将胶片与工件贴紧
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考题 试样中靠近射线源一侧的缺陷的图象在下列哪种情况下清晰度不好：（）A、源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小
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考题 要满足几何不清晰度的要求，对于AB级而言，射线源至工件表面距离Ll至少应为（）（式中：d-射线源的尺寸，L2-工件表面至胶片的距离）。A、7.5dL2/32B、15dL2/32C、10dL2/32D、10dL1/32
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考题 由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为（）A、像散效应B、半影C、图像失真度D、图像投影模糊
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考题 通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。
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考题 在X射线照相检验中，工件的体积型缺陷，较易被发现
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考题 试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A、射线源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小
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考题 线形透度计应放在（）。A、远离射线源一侧的工件表面上B、靠近射线源一侧的工件表面上C、胶片暗盒表面上D、A、B和C
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考题 下列各项中不影响射线照片细节影像不清晰度的是（）。A、射线源尺寸B、射线源到胶片距离C、X射线能量D、X射线强度
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考题 射线透射检验时，工件中靠近射线源的缺陷，在（）的情况下，清晰度降低。A、工件厚度减小B、焦点尺寸减小C、工件厚度增加D、焦距增大
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考题 在射线探伤中，为了对缺陷能较好的检测，一般的情况下射线中心束应垂直入射工件表面。
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考题 卧式X射线机的物品（）可使显示的X射线图像更佳且显示比例更大。A、立放、远离射线源B、平放、远离射线源C、立放、靠近射线源D、平放、靠近射线源
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考题 单选题由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为（）A 像散效应B 半影C 图像失真度D 图像投影模糊
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考题 单选题试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A 射线源到物体距离增大B 试样厚度增大C 焦点尺寸减小D 试样厚度减小
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考题 单选题以下有关环焊缝双壁单影透照的说法正确的是（）A 射线源放在工件外侧，而将胶片贴在射线源对面的工件外侧B 射线束透过工件的双层壁厚C 环焊缝源在外双壁单影透照技术较多地应用于管道射线照相检验中D 以下都对
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考题 单选题工件中靠射线源一侧的缺陷图像，在下列哪种情况下清晰度最差？（）A 焦距增大B 焦点尺寸减小C 工件厚度增大D 将胶片与工件贴紧
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考题 单选题射线透射检验时，工件中靠近射线源的缺陷，在（）的情况下，清晰度降低。A 工件厚度减小B 焦点尺寸减小C 工件厚度增加D 焦距增大
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考题 判断题通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上，并靠近被检工件的边缘。A 对B 错
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考题 单选题试样中靠近射线源一侧的缺陷的图象在下列哪种情况下清晰度不好：（）A 源到物体距离增大B 试样厚度增大C 焦点尺寸减小D 试样厚度减小
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