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单选题
试样中靠近射线源侧的缺陷影像,在()情况下其清晰度不好
A

射线源到物体距离增大

B

试样厚度增大

C

焦点尺寸减小

D

试样厚度减小


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能

考题 影响几何不清晰度的主要原因是()。A、射线源的焦点尺寸、焦距B、缺陷至胶片距离C、焦点至缺陷的距离D、以上都是

考题 工件中靠射线源一侧的缺陷图像,在下列哪种情况下清晰度最差?()A、焦距增大B、焦点尺寸减小C、工件厚度增大D、将胶片与工件贴紧

考题 试样中靠近射线源一侧的缺陷的图象在下列哪种情况下清晰度不好:()A、源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小

考题 在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()A、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大B、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大C、其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小D、其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

考题 由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为()A、像散效应B、半影C、图像失真度D、图像投影模糊

考题 射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后,也就确定了下述什么参数?()A、底片上的密度B、胶片的实际尺寸C、底片上的不清晰度D、底片上的对比度

考题 胶片射线照相时,透度计通常放于:()A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源地一侧C、被检物体靠近胶片地一侧D、操作者和射线源之间

考题 用铅箔增感屏得到的底片,物体影像的清晰度不好,要想改善其清晰度,可以()A、改用粗粒胶片B、改用大焦点射线源C、增大射线源到胶片的距离D、改用荧光增感屏

考题 试样中靠近射线源侧的缺陷影像,在()情况下其清晰度不好A、射线源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小

考题 厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差。

考题 线形透度计应放在()。A、远离射线源一侧的工件表面上B、靠近射线源一侧的工件表面上C、胶片暗盒表面上D、A、B和C

考题 影响几何不清晰度的主要原因是射线源焦点尺寸、焦距、缺陷至胶片的距离和焦点至缺陷的距离。

考题 以下不是影响几何不清晰度的主要原因是()。A、 射线源焦点尺寸、焦距B、 缺陷至胶片距离C、 焦点至缺陷的距离D、 焦点至胶片的距离

考题 下列各项中不影响射线照片细节影像不清晰度的是()。A、射线源尺寸B、射线源到胶片距离C、X射线能量D、X射线强度

考题 射线透射检验时,工件中靠近射线源的缺陷,在()的情况下,清晰度降低。A、工件厚度减小B、焦点尺寸减小C、工件厚度增加D、焦距增大

考题 单选题由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因,在显示缺陷的边缘轮廓时可能发生缺乏完整的清晰度,这个由于几何原因引起的不清晰度称为()A 像散效应B 半影C 图像失真度D 图像投影模糊

考题 单选题工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A 影像重叠B 影像畸变C 影像放大D 以上都有可能

考题 单选题工件中靠射线源一侧的缺陷图像,在下列哪种情况下清晰度最差?()A 焦距增大B 焦点尺寸减小C 工件厚度增大D 将胶片与工件贴紧

考题 单选题用铅箔增感屏得到的底片,物体影像的清晰度不好,要想改善其清晰度,可以()A 改用粗粒胶片B 改用大焦点射线源C 增大射线源到胶片的距离D 改用荧光增感屏

考题 单选题在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()A 其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大B 其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大C 其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小D 其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小

考题 单选题射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后,也就确定了下述什么参数?()A 底片上的密度B 胶片的实际尺寸C 底片上的不清晰度D 底片上的对比度

考题 多选题要使图像更加清晰,在DPP中的()中进行调整。ARGB影像调整中的清晰度BRAW影像调整中的清晰度CRGB影像调整中的清晰度和RAW影像调整中的清晰度一起进行调整DRAW影像调整中的清晰度以及在工具选项中使用参数设定来减噪ERGB影像调整中的对比度FRGB影像调整中的颜色饱和度

考题 单选题射线透射检验时,工件中靠近射线源的缺陷,在()的情况下,清晰度降低。A 工件厚度减小B 焦点尺寸减小C 工件厚度增加D 焦距增大

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