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单选题
显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用（）。
A

低倍目镜与低倍物镜组合

B

低倍目镜与高倍物镜组合

C

高倍目镜与高倍物镜组合

D

高倍目镜与低倍物镜组合

E

以上均不是

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考题 在遥感数字图像处理中，为重点突出图像上的某些特征可采用（），为了突出图像的边缘、线状目标或某些亮度变化率大的部分，可采用（），为了改变图像像元的亮度值，可采用（）。
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考题 射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图像，则认为（）A、这一张底片对比度高，像质好B、这一张底片清晰度高，灵敏度高C、这一张底片受正向散射线影响严重，像质不符合要求D、这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求
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考题 对曝光不足的底片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。
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考题 为了要改进射线检测的清晰度而选用低速底片时，需要（）A、较低的管电压B、较多的曝光时间C、较低的管电流D、较短的曝光时间
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考题 下列哪项不是底片判读时环境设施的要求？（）A、黑度计B、像质计C、判片室D、判片灯
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考题 像质计用来指示底片对比度
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考题 拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张相同的胶片重叠曝光。
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考题 拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张具有不同感光速度的胶片重叠曝光。
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考题 拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用荧光增感屏法。
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考题 射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。A、测量缺陷的大小B、测量缺陷的位置C、测量缺陷的几何不清楚度D、确定底片的彩像质量
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考题 拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用在暗盒内同时装两张具有（）。
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。
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考题 用显微镜对物体作显微摄影时，用波长较短的光照射较好，是因为（）A、波长越短，分辨率越高B、波长越短，底片越易感光C、波长越短，显微镜放大率越大D、以上都不对
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考题 显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用（）A、低倍目镜与低倍物镜组合B、低倍目镜与高倍物镜组合C、高倍目镜与高倍物镜组合D、高倍目镜与低倍物镜组合E、以上均不是
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考题 下列“像”中属于虚像的是。（）A、平面镜成像B、电影屏幕上的像C、相机底片上的像。
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。（）
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考题 问答题为了改进直接染料的染色牢度可采用的两种方法是什么？
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考题 判断题对曝光不足的底片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。A 对B 错
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考题 单选题由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊形式表现为（）A 底片的衬度差B 底片上出现斑点C 底片上发生严重灰雾D 底片的分辨率差
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考题 单选题用显微镜对物体作显微摄影时，用波长较短的光照射较好，是因为（）A 波长越短，分辨率越高B 波长越短，底片越易感光C 波长越短，显微镜放大率越大D 以上都不对
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考题 单选题射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图像，则认为（）A 这一张底片对比度高，像质好B 这一张底片清晰度高，灵敏度高C 这一张底片受正向散射线影响严重，像质不符合要求D 这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求
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考题 单选题像质计的功用是（）A 显示缺陷的大小B 显示底片的黑度C 显示底片的对比度D 显示照相的品质
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考题 单选题显微摄影时为了改进底片平面像的分辨率可采用（）。A 低倍目镜与低倍物镜组合B 低倍目镜与高倍物镜组合C 高倍目镜与高倍物镜组合D 高倍目镜与低倍物镜组合E 以上均不是
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考题 单选题为了要改进射线检测的清晰度而选用低速底片时，需要（）A 较低的管电压B 较多的曝光时间C 较低的管电流D 较短的曝光时间
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