考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块B、一块C、二块
考题
在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。
A、变凹B、变凸C、不变
考题
常用的平面度的测量方法（）。A、光隙法B、测微仪法C、平晶法D、水平仪法
考题
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
考题
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。A、变凹B、变凸C、不变
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A、平B、凸C、凹
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。A、一块B、二块C、三块
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
单选题若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A
平B
凸C
凹
考题
单选题千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。A
四块B
一块C
二块
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
单选题在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（）。A
变凹B
变凸C
不变
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。A
一块B
二块C
三块
考题
填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。