考题
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。
A、0.9μmB、0C、1.8μm
考题
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。
A、平B、凸C、凹
考题
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，则干涉条纹的情况为( )。A.中央明纹是白色的
B.红光条纹较密
C.紫光条纹间距较大
D.干涉条纹为白色
考题
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（ ）。A．中央明纹是白色的
B．红光条纹较密
C．紫光条纹间距较大
D．干涉条纹为白色
考题
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
考题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，则干涉条纹的情况为（）。A、中央明纹是白色的B、红光条纹较密C、紫光条纹间距较大D、干涉条纹为白色
考题
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
考题
用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。A、被测表面不光洁B、被测表面平面度很差C、被测表面有毛刺D、非金属材料表面折光不好
考题
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）A、中央明纹是白色的B、红光条纹较密C、紫光条纹间距较大D、干涉条纹为白色
考题
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
考题
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A、平B、球C、波形D、倾斜
考题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
考题
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A
平B
球C
波形D
倾斜
考题
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A
中凹B
中凸C
平面D
波形
考题
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A
0.9μmB
0C
1.8μm
考题
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。A
0.9μmB
0C
1.8μm
考题
填空题将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
单选题在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）。A
中央明纹是白色的B
红光条纹较密C
紫光条纹间距较大D
干涉条纹为白色
考题
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A
光波法B
光干涉法C
光条纹法D
干涉条纹法
考题
单选题在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，则干涉条纹的情况为（）。A
中央明纹是白色的B
红光条纹较密C
紫光条纹间距较大D
干涉条纹为白色