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单选题
DIN5419所采用的像质计是（）
A

孔洞型

B

线条型

C

阶梯型

D

八卦型

参考答案

参考解析
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考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是
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考题 DIN5419所采用的像质计是（）A、孔洞型B、线条型C、阶梯型D、八卦型
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考题 下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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考题 对于金属材料我*厂采用（）规定的像质计
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考题 最广泛使用的像质计型式主要是（）A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是
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考题 有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
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考题 工业射线照相用的像质计大致有（）A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是
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考题 孔洞型像质计编号为20号，这表示（）A、最小孔洞直径0.20英寸B、最小孔洞直径2.0mmC、像质计厚度0.20英寸D、像质计厚度0.020英寸
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考题 对复合材料制件进行X射线照相检验时，可采用GB55618规定的像质计
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考题 像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A、像质计B、透度计C、以上都对
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考题 常用的像质计是（）。A、 槽式像质计B、 线形像质计C、 孔形像质计D、 以上都是
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。
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考题 常用的像质计是板式像质计。
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。（）
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考题 填空题对于金属材料我*厂采用（）规定的像质计
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考题 单选题孔洞型像质计编号为20号，这表示（）A 最小孔洞直径0.20英寸B 最小孔洞直径2.0mmC 像质计厚度0.20英寸D 像质计厚度0.020英寸
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考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有（）A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是
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考题 单选题最广泛使用的像质计型式主要是（）A 丝型像质计B 阶梯孔型像质计C 平板孔型像质计D 以上都是
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考题 单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A 像质计B 透度计C 以上都对
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考题 单选题常用的像质计是（）。A 槽式像质计B 线形像质计C 孔形像质计D 以上都是
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考题 单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A 摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B 采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C 当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D 以上都对
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考题 单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比（）A 阶梯孔型像质计更灵敏些B 丝型像质计更灵敏些C 两者灵敏性相同D 以上都不是
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考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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