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判断题
THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。
A

B


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考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元温故障,现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统板温正常值范围是-45~60℃。

考题 THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。

考题 (康拓)THDS-A系统对探头进行系统标定时,如果所得系数与正常值偏离较大,有可能的原因造成是()。A、有可能是系统噪声,造成探头输出异常,程序计算系数异常B、有能是靶温温度发生改变,需要重新做手动热把标定C、有能是环境温度发生改变,需要重新做手动热把标定D、有可能是阳光干扰,造成探头输出异常,程序计算系数异常

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 (哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。

考题 THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有纵向跳变,则说明可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有横向跳变时,则说明故障可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,如果报元温故障,现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障,现象盘温-100℃、150℃或与正常值偏离较大,正确的解决办法是()。A 更换探头B 更换测温板C 左右侧探头互换,故障也互换,则需要更换探头。若故障不移动,则用万用表测量测温板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换内探测温板,否则更换内探AD采集板D 更换AD采集板

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统板温正常值范围是-45~60℃。A 对B 错

考题 单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障,现象是器温-100℃、150℃或与正常值偏离较大,正确的解决办法是()。A 更换探头B 更换测温板C 左右侧探头互换,故障也互换,则需要更换探头。若故障不移动,则用万用表测量测温板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换内探测温板,否则更换内探AD采集板D 更换AD采集板

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。A 对B 错