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判断题
(哈科)THDS-C系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。
A

B


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考题 (哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

考题 THDS-A(哈科所)探测站造成探头输出幅值低的原因有()。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误

考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元温故障,现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温

考题 (哈科)THDS-C系统双侧热靶曲线为一条水平直线,可能造成双侧探头测温异常。

考题 THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。

考题 THDS-A(哈科所)探测站造成探头噪声大的原因有()。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误

考题 THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。

考题 (哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。

考题 (哈科)THDS-C系统如果在校零状态下,探头输出不为1V,可能是校零板故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。

考题 THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有纵向跳变,则说明可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有横向跳变时,则说明故障可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统双侧热靶曲线为一条水平直线,可能造成双侧探头测温异常。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站造成探头输出幅值低的原因有()。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误

考题 判断题(哈科)THDS-C系统如果在校零状态下,探头输出不为1V,可能是校零板故障。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温