考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A
测温板B
温控板C
调理板D
功放板
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
判断题（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
判断题（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变