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判断题
THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。
A

B


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考题 THDS-A(哈科所)系统,探头校零故障时,热靶曲线为一水平直线,探头输出信号值都为1伏。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变

考题 THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温

考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

考题 THDS-A(哈科所)系统,双侧热靶曲线为一个点,可能造成双侧探头测温异常。

考题 THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。

考题 THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,左侧热靶曲线为一条水平直线,可能造成左侧探头测温异常。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A 测温误差大B 测温良好C 测温稳定D 测温不变

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A 对B 错