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光子探头的动态噪声应小于()mVVp-p,超标换修。


参考答案

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考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。

考题 (康拓)THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。

考题 THDS-BS系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。

考题 热敏探头在保持状态下噪声应小于()mVVp-p,超标换修。

考题 测量THDS-A红外轴温探测系统光子探头动态噪声的方法是()A、进入系统维护状态,上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子B、进入系统维护状态,不上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光C、进入系统维护状态,上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子D、进入系统维护状态,不上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子

考题 HZT-2000型静态自检值中第一值超标,表示()。A、通道隔离板故障,也可能是干扰造成的B、该探头的噪声超标C、保护门可能长开不关D、开保护门的探头噪声

考题 THDS动态检测车的功能是()。A、自动检测地面探测装置的测温精度B、自动检测地面探测装置的计轴计辆精度C、自动检测探头的方位偏移程度D、自动检测探头的噪声超标程度

考题 调制光子探头的动态噪声超过()需要更换。A、100mVB、200mVC、250mVD、150mV

考题 (哈科)THDS-C系统直流光子探头静噪声:≤10mV(有效值)。

考题 THDS-A(哈科所)探测站中光子探头应满足以下()技术要求。A、噪声电压<80mVB、漂移<150mVC、噪声电压<100mVD、漂移<200mVE、噪声电压<150mV

考题 单选题直流探头半月检标准,5min飘移应小于(),超标换修。A 100mVB 200mVC 250mVD 300mV

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站中光子探头应满足以下()技术要求。A噪声电压<80mVB漂移<150mVC噪声电压<100mVD漂移<200mVE噪声电压<150mV

考题 单选题THDS-BS系统直流探头月检标准,5min飘移应小于(),超标换修。A 100mVB 200mVC 250mVD 300mV

考题 单选题(哈科)THDS-B系统直流探头月检标准,5min飘移应小于(),超标换修。A 100mVB 200mVC 250mVD 300mV

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。A 对B 错

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站用示波器测量探头噪声时,光子探头噪声≥()时需更换。A 100mVB 95mVC 90mVD 80mV

考题 单选题THDS-BS系统光子探头的保持状态下噪声应小于()Vp-p,超标换修。A 100mVB 50mVC 200mVD 20mV

考题 单选题HZT-2000型静态自检值中第一值超标,表示()。A 通道隔离板故障,也可能是干扰造成的B 该探头的噪声超标C 保护门可能长开不关D 开保护门的探头噪声

考题 单选题(哈科)THDS-B系统热敏探头在动态噪声应小于()Vp-p,超标换修。A 100mVB 50mVC 200mVD 150mV

考题 填空题热敏探头在保持状态下噪声应小于()mVVp-p,超标换修。

考题 单选题THDS-A探测系统中探头动态输出噪声有效值小于()A 20mVB 30mVC 40mVD 50mV

考题 单选题测量THDS-A红外轴温探测系统光子探头动态噪声的方法是()A 进入系统维护状态,上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子B 进入系统维护状态,不上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光C 进入系统维护状态,上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子D 进入系统维护状态,不上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子

考题 判断题THDS-BS系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。A 对B 错

考题 判断题(康拓)THDS-B系统“探头噪声测量”菜单可以检测光子探头和热敏探头的噪声,并且还可以检测光子探头的漂移。A 对B 错

考题 填空题光子探头的动态噪声应小于()mVVp-p,超标换修。