考题
THDS-A探测系统调制探头的大修标准是（）A、直接更换B、静态噪声：Vp-p＜100mVC、动态噪声：Vp-p＜150mVD、探头标定：误差在±1℃以内
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头噪声大的原因有（）。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统如果报元温故障正确的解决办法是（）。A、直接更换探头B、更换探头温控板C、左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。
考题
THDS-A（哈科所）系统，热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A、噪声电压＜80mVB、漂移＜150mVC、噪声电压＜100mVD、漂移＜200mVE、噪声电压＜150mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
单选题（康拓）THDS-A系统调制光子探头的静态噪声超过（）需要更换。A
100mVB
150mVC
200mVD
250mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中光子探头应满足以下（）技术要求。A噪声电压＜80mVB漂移＜150mVC噪声电压＜100mVD漂移＜200mVE噪声电压＜150mV
考题
单选题THDS-A探测系统调制探头的大修标准是（）A
直接更换B
静态噪声：Vp-p＜100mVC
动态噪声：Vp-p＜150mVD
探头标定：误差在±1℃以内
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站用示波器测量探头噪声时，光子探头噪声≥（）时需更换。A
100mVB
95mVC
90mVD
80mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
单选题调制光子探头的静态噪声超过（）需要更换A
100mVB
200mVC
250mVD
150mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时，可以擦拭后直接接车。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错