考题
液浸探伤时，采用()方法可消除探头近场的影响A.提高频率
B.合适的水层距离
C.大直径探头探测
D.聚焦探头探测
考题
轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤
考题
筒形锻件最主要探测方向是：（）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是
考题
在液浸探伤时可消除探头近场影响的方法是（）A、提高频率B、用大直径探头C、改变水层距离D、用聚焦探头探测
考题
液浸探伤时，采用（）方法可消除探头近场的影响A、提高频率B、合适的水层距离C、大直径探头探测D、聚焦探头探测
考题
Zr-4合金管的超声探伤采用（）A、平探头B、水浸聚焦探头C、表面波探头D、垂直平探头
考题
垂直法探伤应用（）探头，将波型为（）的波束垂直入射至工件探测面，以不变的（）和（）射入工件。
考题
对于小口径厚壁管作垂直于轴的斜探伤时，用下述办法较好的是（）A、用水浸线聚焦探头B、用大晶片探头，水浸法C、A、B都可D、A、B都不可
考题
探头在钢轨探伤中具有（）和反射两种探伤方式。A、水浸B、穿透C、串列D、双探头
考题
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法
考题
在一般水浸探伤装置中，横跨在水槽宽度方向上的组件，称为：（）A、发声装置B、扫查架C、探头控制器D、探测管
考题
斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的 ，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
考题
单选题在一般水浸探伤装置中，横跨在水槽宽度方向上的组件，称为：（）A
发声装置B
扫查架C
探头控制器D
探测管
考题
判断题小径管水浸聚焦法探伤时，应使探头的焦点落在与声轴垂直的管心线上。A
对B
错
考题
单选题探头在钢轨探伤中具有（）和反射两种探伤方式。A
水浸B
穿透C
串列D
双探头
考题
单选题水浸探伤中，当探头垂直探测面时，则：（）A
界面回波幅度最大B
水层多次回波消失C
波长适当D
始脉冲幅度最大
考题
填空题垂直法探伤应用（）探头，将波型为（）的波束垂直入射至工件探测面，以不变的（）和（）射入工件。
考题
单选题Zr-4合金管的超声探伤采用（）A
平探头B
水浸聚焦探头C
表面波探头D
垂直平探头
考题
填空题斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的 ，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
考题
单选题探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A
斜射法B
水浸法C
接触法D
穿透法
考题
单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A
轴向直探头探伤B
径向直探头探伤C
斜探头外圆面轴向探伤D
斜探头外圆面周向探伤
考题
单选题在液浸探伤时可消除探头近场影响的方法是（）A
提高频率B
用大直径探头C
改变水层距离D
用聚焦探头探测
考题
单选题对于小口径厚壁管作垂直于轴的斜探伤时，用下述办法较好的是（）A
用水浸线聚焦探头B
用大晶片探头，水浸法C
A、B都可D
A、B都不可
考题
单选题分割式探头主要用来（）。A
探测离探伤面远的缺陷B
探测离探伤面近的缺陷C
探测与探伤面平行的缺陷
考题
单选题液浸探伤时，采用（）方法可消除探头近场的影响A
提高频率B
合适的水层距离C
大直径探头探测D
聚焦探头探测