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判断题
像质计用来指示底片对比度
A

对

B

错

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更多 “判断题像质计用来指示底片对比度A 对B 错” 相关考题
考题 按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
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考题 射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于（）mm
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考题 若射线底片能出现像质计的必要的孔洞影像，则表示该底片具有足够的（）A、对比度B、清晰度C、灵敏度D、宽容度
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考题 像质计的功用是（）A、显示缺陷的大小B、显示底片的黑度C、显示底片的对比度D、显示照相的品质
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考题 下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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考题 一铸件厚度为1.25英寸，射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（）。
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考题 以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
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考题 射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图像，则认为（）A、这一张底片对比度高，像质好B、这一张底片清晰度高，灵敏度高C、这一张底片受正向散射线影响严重，像质不符合要求D、这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求
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考题 像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。
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考题 透度计用来指示（）A、零件中缺陷的尺寸B、胶片密度C、胶片对比度D、射线照相底片的质量
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考题 下列哪项不是底片判读时环境设施的要求？（）A、黑度计B、像质计C、判片室D、判片灯
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考题 像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A、像质计B、透度计C、以上都对
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考题 像质计用来指示底片对比度
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考题 像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。
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考题 像质计金属丝底片对比度公式讨论提高对比度的主要途径，并说明通过这些途径提高底片对比度可能会带来什么缺点？
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考题 射线透照厚度1.25in的铸件，射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔，则该底片的当量灵敏度为（）。A、 0.8%B、 1.6%C、 2.4%D、 3.2%
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。
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考题 当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。（）
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考题 单选题下列哪项不是底片判读时环境设施的要求？（）A 黑度计B 像质计C 判片室D 判片灯
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考题 单选题透度计用来指示（）A 零件中缺陷的尺寸B 胶片密度C 胶片对比度D 射线照相底片的质量
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考题 判断题像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。A 对B 错
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考题 单选题像质计是用来表征对于某些人工缺陷（如圆孔、沟槽、金属丝）的发现难易程度，它又称作（）A 像质计B 透度计C 以上都对
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考题 填空题射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于（）mm
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考题 单选题若射线底片能出现像质计的必要的孔洞影像，则表示该底片具有足够的（）A 对比度B 清晰度C 灵敏度D 宽容度
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考题 单选题射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图像，则认为（）A 这一张底片对比度高，像质好B 这一张底片清晰度高，灵敏度高C 这一张底片受正向散射线影响严重，像质不符合要求D 这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求
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考题 单选题像质计的功用是（）A 显示缺陷的大小B 显示底片的黑度C 显示底片的对比度D 显示照相的品质
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考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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