考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。A.可变角探头B.直探头C.斜探头D.收/发联合双晶探头
考题
检验近表面缺陷时,最好选用联合双晶探头。()
此题为判断题(对，错)。
考题
检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头
考题
联合双直探头的最主要用途是：（）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头
考题
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
考题
单选题联合双直探头的最主要用途是：（）A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷探伤
考题
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷检测
考题
问答题在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
判断题检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。A
对B
错
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
判断题收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A
近表面B
表面C
内部D
平面形
考题
判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A
对B
错
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收发联合双晶探头
考题
单选题表面波探头用于探测工件（）缺陷。A
近表面B
表面C
内部D
平面形