考题
通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。
A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能
考题
长方体锻件最主要检测方向是（）。A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 直探头垂直的两端面检测
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头
考题
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出
考题
轴类锻件最主要检测方向是（）。A、轴向直探头检测B、径向直探头检测C、斜探头外圆面轴向检测D、斜探头外圆面周向检测
考题
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
考题
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
考题
簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
考题
接近探侧面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（）。A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
考题
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
考题
通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头
考题
单选题接近探侧面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（）。A
联合双探头B
普通直探头C
表面波探头D
横波斜探头
考题
单选题联合双直探头的最主要用途是：（）A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷探伤
考题
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷检测
考题
单选题长方体锻件最主要检测方向是（）。A
直探头端面检测B
直探头侧面检测C
斜探头端面检测D
直探头垂直的两端面检测
考题
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A
联合双探头B
普通直探头C
表面波探头D
横波斜探头
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收/发联合双晶探头
考题
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A
直探头端面探伤B
直探头侧面探伤C
斜探头端面探伤D
斜探头侧面探伤
考题
单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A
轴向直探头探伤B
径向直探头探伤C
斜探头外圆面轴向探伤D
斜探头外圆面周向探伤
考题
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A
单斜探头法B
单直探头法C
双斜探头前后串列法D
分割式双直探头法
考题
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A
可变角探头B
直探头C
斜探头D
收发联合双晶探头
考题
多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直
考题
填空题联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出