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填空题
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。

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考题 纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
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考题 纵波直探头在检测工件时，有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响（）。A、 影响缺陷的定量B、 影响缺陷的定位C、 影响缺陷的定量 、定位D、 检测结果评级的影响
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考题 A型扫描显示中，荧光屏上垂直显示大小表示：（）A、超声回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超声传播时间
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考题 焊缝横波检测时，裂纹等危害性缺陷的反射回波一般很高并且包络较宽。
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考题 超声波检测中避免在近场区定量的原因是（）。A、 近场区的回波声压很高，定量不准确B、 在近场区检测时，由于探头存在盲区，易形成漏检C、 在近场区检测时，处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低；处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高，容易出现误判D、 以上都对
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考题 对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A、 缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B、 无影响C、 缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D、 以上都对
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考题 对轴类工件作外圆径向纵波检测时，曲底面回波声压与同声程理想大平底回波声压反射规律不同。
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考题 纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
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考题 在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
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考题 长轴类锻件从端面作轴向检测时，容易出现的非缺陷回波是（）A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波
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考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对
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考题 在探测工件侧壁附近的缺陷时，由于存在着（），所以探伤灵敏度会明显偏低。A、侧壁干扰B、61°角反射波C、工件底面不平D、以上都对
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考题 对于厚度不大，表面不很光滑的铸件，可采用（）检查，并观察一次底回波与二次底回波之间是否有缺陷回波。A、纵波法B、横波法C、多次回波法D、分层探伤法
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考题 被探钢板厚度为19㎜，探测时，当波形出现叠加效应，则对缺陷的评价应以（）为据。A、F1回波的大小B、F2回波的大小C、B1回波的大小D、以上都不对
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考题 盲区最小的探伤方法是（）A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法
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考题 在超声波探伤中，由于缺陷与被探材料的（）不同，才会产生回波信号。
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考题 钢板探伤中，声速垂直入射缺陷表面，回波高度（）。A、粗糙表面回波幅度高B、无影响C、光滑表面回波幅度高D、以上都可能
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考题 纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
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考题 单选题超声波检测中避免在近场区定量的原因是（）。A  近场区的回波声压很高，定量不准确B  在近场区检测时，由于探头存在盲区，易形成漏检C  在近场区检测时，处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低；处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高，容易出现误判D  以上都对
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考题 单选题纵波直探头在检测工件时，有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响（）。A  影响缺陷的定量B  影响缺陷的定位C  影响缺陷的定量 、定位D  检测结果评级的影响
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考题 单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A 尽可能靠近侧壁；B 离侧壁10mm；C 离侧壁一个探头直径的距离处；D 离侧壁二个探头直径的距离处。
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考题 单选题对接焊接接头斜探头检测时，与主声束垂直的缺陷，缺陷表面状态对回波高度的影响是（）。A  缺陷回波波高随粗糙度增大而下降B  无影响C  缺陷回波波高随粗糙度增大而增大D  以上都对
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考题 填空题在超声波探伤中，由于缺陷与被探材料的（）不同，才会产生回波信号。
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考题 填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
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考题 判断题对轴类工件作外圆径向纵波检测时，曲底面回波声压与同声程理想大平底回波声压反射规律不同。A 对B 错
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考题 单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A 探头太大，无法移至边缘B 侧壁反射波发生干涉C 频率太高D 以上都不是
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