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单选题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A

球面干涉

B

等厚干涉

C

等倾干涉


参考答案

参考解析
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考题 千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

考题 用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm

考题 用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。 A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉

考题 用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔干涉条纹,则其平面度为()。A、0.9μmB、0C、1.8μm

考题 用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

考题 用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。

考题 某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()A、0.01mmB、0.02umC、0.03um

考题 用平面平晶检查平面度时,如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时,其平面度是()。A、0.9μmB、0C、0.3μm

考题 测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多,则平面度误差()。

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考题 检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

考题 在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm

考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定

考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

考题 在检定平晶平面度时,如果用手角摸平晶进行调整的时间过长,会使平晶的平面度()。A、变凹B、变凸C、不变

考题 检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?

考题 用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?

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考题 单选题用平面平晶检查平面度时,如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时,其平面度是()。A 0.9μmB 0C 0.3μm

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考题 判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A 对B 错

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考题 问答题检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?

考题 填空题用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。