网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:
题目内容
(请给出正确答案)
单选题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A
球面干涉
B
等厚干涉
C
等倾干涉
参考答案
参考解析
解析:
暂无解析
更多 “单选题用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A 球面干涉B 等厚干涉C 等倾干涉” 相关考题
考题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
考题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为()。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
考题
填空题用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。
热门标签
最新试卷