考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
考题
高度游标卡尺量爪测量面的平面度用（）刀口直尺检定，底座工作面用（）刀口直尺以光隙法检定。
考题
对分度值为0.02mm的游标卡尺，检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以（）方法检定。A、比较法B、技术光波干涉法C、光隙法
考题
长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定
考题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
考题
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
考题
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
考题
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
考题
新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A、技术光波干涉法B、比较法C、光隙法
考题
若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
考题
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
考题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题对分度值为0.02mm的游标卡尺，检定外量爪测量面的平面度用0级样板直尺/刀口尺以（）方法检定。A
比较法B
技术光波干涉法C
光隙法
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
单选题某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A
0.01mmB
0.02umC
0.03um
考题
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A
对B
错
考题
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A
用刀口尺以光隙法检定B
用平晶以技术光波干涉法分段检定C
用自准直仪以节距法检定
考题
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A
光波法B
光干涉法C
光条纹法D
干涉条纹法
考题
单选题新制的及修理后的千分尺测量面平面度可用2级平晶以（）方法检定。A
技术光波干涉法B
比较法C
光隙法
考题
填空题技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。