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金属材料的应变效应以几何尺寸变化引起的阻值变化为主。

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考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。 A、金属丝几何尺寸的变化B、金属丝材料弹性模量的变化C、金属丝电阻率的变化D、金属丝压阻系数的变化
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考题 电阻应变片中电阻栅金属材料的灵敏系数K的物理意义是()。 A、单位应变的电阻变化量B、单位电阻的应变变化量C、单位应变的电阻变化率D、单位电阻的应变变化率
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考题 电阻应变片的灵敏度系数K指的是（　　）。 A、应变片电阻值的大小 B、单位应变引起的应变片相对电阻值变化 C、应变片金属丝的截面积的相对变化 D、应变片金属丝电阻值的相对变化
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考题 在压变片式压力变送器中，应变片将压力转换为应变片的（）。A、电阻值变化B、电压值变化C、电流值变化D、电容值变化
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考题 材料在各种形式外力作用下所能引起的尺寸﹑体积的（），称为应变。A、物理变化B、化学变化C、绝对变化D、相对变化
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考题 指材料在承受应变时，其几何尺寸发生变化而导致发生变化的现象，称为（）；指材料在承受应变时，其自身电阻率发生变化而导致电阻发生变化的现象，称为（）。
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考题 金属材料受不同载荷作用而发生的几何形状和尺寸的变化称为变形，可分为弹性变形和（）。
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考题 电阻式温度传感器的测温原理是（）A、金属材料的长度随温度而变化B、金属材料的强度随温度而变化C、金属材料的电阻值随温度而变化
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考题 半导体材料的压阻效应以几何尺寸变化引起的阻值变化为主。
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考题 在外力作用下，金属应变式传感器主要产生几何尺寸变化，而压阻式传感器主要是（）发生变化，两者都引起电阻值发生变化。
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考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时，引起电阻的相对变化主要由（）。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料的电阻率的变化D、电阻截面积
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考题 温度引起电阻应变片阻值变化的原因有两个，其一 （）。其二 （）。 
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考题 金属丝应变片在测量构件的应变时，电阻的相对变化主要由（）来决定的。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻丝材料的电阻率变化
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考题 应变是被测试材料尺寸的变化率，它是加载后应力引起的尺寸变化。（）
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考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时，其电阻的相对变化主要由（）来决定。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料电阻率的变化D、以上均可
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考题 固态压敏电阻在某一方向上承受应力时，它的电阻值发生显著变化，这是由哪些方面因素发生显著变化引起的（）。A、电阻率B、几何尺寸C、晶面上电荷D、极化电荷
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考题 关于电阻应变片，下列说法中正确的是（）A、应变片的轴向应变小于径向应变B、金属电阻应变片以压阻效应为主C、半导体应变片以应变效应为主D、金属应变片的灵敏度主要取决于受力后材料几何尺寸的变化
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考题 影响金属导电材料应变灵敏度系数K的主要因素是（）。A、导电材料电阻率的变化B、导电材料几何尺寸的变化C、导电材料物理性质的变化D、导电材料化学性质的变化
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考题 影响金属导电材料应变灵敏度k的主要因素是（）。A、导电材料电阻率的变化B、导电材料几何尺寸的变化C、导电材料物理性质的变化D、导电材料化学性质的变化
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考题 金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A、压阻效应B、压磁效应C、压电效应D、电阻丝的几何尺寸变化
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考题 单选题金属丝应变片在测量构件的应变时，电阻的相对变化主要由（）来决定的。A 贴片位置的温度变化B 电阻丝几何尺寸的变化C 电阻丝材料的电阻率变化
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考题 单选题金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A 压阻效应B 压磁效应C 压电效应D 电阻丝的几何尺寸变化
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考题 填空题指材料在承受应变时，其几何尺寸发生变化而导致发生变化的现象，称为（）；指材料在承受应变时，其自身电阻率发生变化而导致电阻发生变化的现象，称为（）。
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考题 单选题电阻应变片的灵敏度系数K指的是（）。A 应变片电阻值的大小B 单位应变引起的应变片相对电阻值变化C 应变片金属丝的截面积的相对变化D 应变片金属丝电阻值的相对变化
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考题 单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是（）A 金属应变片主要利用压阻效应B 金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C 半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D 半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高，但非线性误差大。
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考题 填空题温度引起电阻应变片阻值变化的原因有两个，其一 （）。其二 （）。
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考题 单选题电阻应变片中电阻栅金属材料的灵敏系数K的物理意义是（）。A 单位应变的电阻变化量B 单位电阻的应变变化量C 单位应变的电阻变化率D 单位电阻的应变变化率
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