考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表闭环检测码。A、14.7HzB、25.7HzC、27.9HzD、26.8Hz
考题
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表LU码。A、10.3HzB、12.5HzC、11.4HzD、13.6Hz
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为14.7Hz时，其代表（）码。A、U2B、载频切换C、闭环检测D、LU
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为11.4Hz时，其代表（）码。A、L3B、L2C、LD、LU
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为16.9Hz时，其代表（）码。A、UB、HUC、HD、UU
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表U码。A、16.9HzB、26.8HzC、29HzD、18Hz
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表U2码。A、14.7HzB、25.7HzC、27.9HzD、26.8Hz
考题
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主轨道输出电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨出1测试孔B、衰耗盒轨出2测试孔C、衰耗盒GJ（Z）测试孔D、衰耗盒GJ（B）测试孔
考题
ZPW-2000轨道电路，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为12.5Hz时，其代表（）码。A、L3B、L2C、LD、LU
考题
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表载频切换码。A、14.7HzB、25.7HzC、27.9HzD、26.8Hz
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为18Hz时，其代表（）码。A
UB
HUC
HD
UU
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表LU码。A
10.3HzB
12.5HzC
11.4HzD
13.6Hz
考题
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A
衰耗盒轨入测试孔B
衰耗盒轨出1测试孔C
衰耗盒轨出2测试孔D
衰耗盒GJ测试孔
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表载频切换码。A
14.7HzB
25.7HzC
27.9HzD
26.8Hz
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表U2码。A
14.7HzB
25.7HzC
27.9HzD
26.8Hz
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表L码。A
10.3HzB
12.5HzC
11.4HzD
13.6Hz
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为10.3Hz时，其代表（）码。A
L3B
L2C
LD
LU
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为14.7Hz时，其代表（）码。A
U2B
载频切换C
闭环检测D
LU
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表闭环检测码。A
14.7HzB
25.7HzC
27.9HzD
26.8Hz
考题
单选题ZPW-2000轨道电路，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为12.5Hz时，其代表（）码。A
L3B
L2C
LD
LU
考题
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为27.9Hz时，其代表（）码。A
U2B
载频切换C
闭环检测D
LU