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以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。

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考题 超声探伤系统中，以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值。其含意是仪器和探头组合检测最小缺陷的能力，称为( )。A、水平线性B、垂直线性C、动态范围D、灵敏度余量
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考题 在禁烟的场所，应安装的感烟式火灾自动探测器为（ ）。A．绿色一级灵敏度探测器B．黄色二级灵敏度探测器C．红色三级灵敏度探测器D．黑色四级灵敏度探测器
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考题 有关半导体探测器灵敏度的描述，不正确的是（）A、用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高B、在钻-60伽玛辐射场中，N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小C、照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度D、环境温度会影响半导体探测器的灵敏度E、剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
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考题 下列4种探测器中，其探测灵敏度与探测器安装方向有关的有（）。A、被动红外入侵探测器B、微波入侵探测器C、被动红外与微波复合入侵侵探测器D、磁开关入侵探测器
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考题 双技术探测器的探测灵敏度比单技术探测器要高。（）
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考题 以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点（）A、灵敏度高B、横向分辨率高C、纵向分辨率高D、探测粗晶材料时信噪比高
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考题 锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，宽度较大
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考题 镀锡机组针孔仪的作用是（）。A、探测边裂缺陷B、探测辊印缺陷C、探测带钢内部夹杂缺陷D、探测穿透带钢的针孔缺陷（边部除外）
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考题 在超声波检测中，相同的探测灵敏度下，缺陷波幅决定于缺陷的（）、（）与（）
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考题 锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，回波包络宽度较大
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考题 若用直探头反射法探测厚铸件，为降低粗晶草状回波干扰，可采取（）A、采用低频直探头，分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂
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考题 采用大平底反射波探测锻件，在计算缺陷当量大小时，要注意缺陷是否在（）以外
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考题 探测铸件时因表面粗糙，为确保足够的灵敏度，采用（）较好。
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考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对
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考题 在超声波检测中，如果使用的探测频率过高，在探测粗晶材料时会出现（）
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考题 在超声波检测中，相同的探测灵敏度下，缺陷波幅决定于缺陷的大小（）与类型
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考题 以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
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考题 斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
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考题 探测粗晶材料时，通常采用较低频率的探头是为了减小衰减。
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考题 斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的 ，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
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考题 在相同的探测条件下，对同一焊件分别用横波和纵探测的，横波的检测灵敏度比纵波高。
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考题 单选题若用直探头反射法探测厚铸件，为降低粗晶草状回波干扰，可采取（）A 采用低频直探头，分层调整探伤灵敏度B 转换为横波探伤C 用水做耦合剂D 不加耦合剂
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考题 单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对
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考题 单选题有关半导体探测器灵敏度的描述，不正确的是（）A 用硅晶体制成的半导体探测器比相同体积的空气电离室的灵敏度高B 在钻-60伽玛辐射场中，N型半导体探测器的灵敏度比P型半导体探测器的灵敏度受累积剂量的影响要小C 照射野的大小会影响半导体探测器的灵敏度D 环境温度会影响半导体探测器的灵敏度E 剂量率会影响半导体探测器的灵敏度
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考题 填空题斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
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考题 填空题斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的 ，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
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考题 判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A 对B 错
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