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以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()

  • A、当量相同
  • B、铸件中的大
  • C、锻件中的大
  • D、上述都不对

参考答案

更多 “以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对” 相关考题
考题 超声探伤系统中,以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值。其含意是仪器和探头组合检测最小缺陷的能力,称为( )。A、水平线性B、垂直线性C、动态范围D、灵敏度余量

考题 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意

考题 以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点()A、灵敏度高B、横向分辨率高C、纵向分辨率高D、探测粗晶材料时信噪比高

考题 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低,宽度较大

考题 尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线()。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷

考题 磁粉检测适用于检测钢铁材料的裂纹等表面缺陷,如铸件、锻件、焊缝和机械加工的零件的表面缺陷。

考题 在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()

考题 厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件,各自采用底波校正灵敏度(Φ2mm平底孔),在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷,则()A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定

考题 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低,回波包络宽度较大

考题 若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A、采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂

考题 采用大平底反射波探测锻件,在计算缺陷当量大小时,要注意缺陷是否在()以外

考题 铸件中缺陷的主要特征是(),锻件中缺陷的主要特征是()。

考题 探测铸件时因表面粗糙,为确保足够的灵敏度,采用()较好。

考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对

考题 在超声波检测中,如果使用的探测频率过高,在探测粗晶材料时会出现()

考题 在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的大小()与类型

考题 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、两者大小关系不确定

考题 在给定距离时,()材料的工件对超声波衰减最大。A、锻件B、粗晶铸件C、挤压件D、焊缝

考题 用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

考题 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。

考题 在相同的探测条件下,对同一焊件分别用横波和纵探测的,横波的检测灵敏度比纵波高。

考题 单选题若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A 采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B 转换为横波探伤C 用水做耦合剂D 不加耦合剂

考题 单选题在给定距离时,()材料的工件对超声波衰减最大。A 锻件B 粗晶铸件C 挤压件D 焊缝

考题 单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对

考题 填空题用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

考题 判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。A 对B 错

考题 单选题以下叙述中哪一条不是聚焦探头的优点()A 灵敏度高B 横向分辨率高C 纵向分辨率高D 探测粗晶材料时信噪比高