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判断题
以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。
A

B


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 离锻件探测面下20mm处的一个缺陷回波高度高于距离400mm处Φ4平底孔回波7dB(衰减、忽略),则此缺陷当量为3mm。() 此题为判断题(对,错)。

考题 下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是() A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷

考题 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意

考题 处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷,在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时,后者的回波高度() A、与前两者一样B、比前者低C、比前者高D、比前者高而且显示位置提前

考题 尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线( )。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷

考题 用探测面为平面的对比试块中 φ 2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与试块相同的缺陷,则该缺陷的当量。( )A.等于φ2mm平底孔B.比φ2mm平底孔大C.比φ2mm平底孔小D.不小于φ2mm平底孔

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线()。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷

考题 在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()

考题 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低,回波包络宽度较大

考题 锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响

考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对

考题 在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的大小()与类型

考题 斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

考题 以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:()A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对

考题 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、两者大小关系不确定

考题 探测面光洁度不同,横通孔直径、取向、距离都相同,在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面,则回波高度()。A、相同B、光洁度低的高C、光洁度高的高D、光结度高的低

考题 在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量:()A、等于Φ2mm平底孔B、比Φ2mm平底孔大C、比Φ2mm平底孔小D、大于等于Φ2mm平底孔

考题 深度相同但表面状态不同的缺陷,在相同探伤灵敏度下,两者的回波高度不同。

考题 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大。

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 填空题在超声波检测中,相同的探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷的()、()与()

考题 单选题在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量:()A 等于Φ2mm平底孔B 比Φ2mm平底孔大C 比Φ2mm平底孔小D 大于等于Φ2mm平底孔

考题 单选题厚度均为400mm,但材质衰减不同的两个锻件,采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测,现两个锻件中均发现缺陷,且回波高度和缺陷声程均相同,则:()A 两个缺陷当量相同B 材质衰减大的锻件中缺陷当量小C 材质衰减小的锻件中缺陷当量小D 以上都不对

考题 单选题锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A 反射波峰尖锐B 反射波稳定但较波幅低C 反射波幅低,回波包络宽度较大

考题 判断题深度相同但表面状态不同的缺陷,在相同探伤灵敏度下,两者的回波高度不同。A 对B 错

考题 单选题探测面光洁度不同,横通孔直径、取向、距离都相同,在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面,则回波高度()。A 相同B 光洁度低的高C 光洁度高的高D 光结度高的低