考题
盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到()
A、能否检出平行于超声波束的缺陷B、能否检出位于锻件中心部位的小缺陷C、能否检出表面缺陷D、能否检出近距离的缺陷
考题
射线检测适用于检测体积型缺陷，而面积性缺陷的检出率受多种因素的影响。此题为判断题(对，错)。
考题
下列属于RT无损检测的缺点有（ ）。
A.对体积型缺陷的缺陷，检测率较高
B.对薄壁工件中的缺陷，检测率较高
C.检测成本较高，检测速度慢
D.面积型缺陷的检出率较高
E.对人体和环境有害
考题
对于压力容器的无损检测方法有很多，其中对于面积型缺陷检出率高，适宜检测厚度较大工件的检测方法是（ ）。A.涡流检测
B.磁粉检测
C.射线检测
D.超声波检测
考题
金属材料在交变磁场作用下产生涡流，根据涡流的大小和分布可检出铁磁性材料的缺陷，称这种检出缺陷的方法为磁粉探伤。
考题
下列缺陷不能用渗透检验方法检出的是（）A、表面分层B、内部锻裂C、扩展至工件表面的缺陷D、表面折叠
考题
盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一，因为它关系到（）。A、检出平行于超声波束的缺陷B、检出位于锻件中心部位的小缺陷C、检出表面缺陷D、检出近表面的缺陷
考题
射线探伤的优点是：（）。A、检测结果有直接记录B、可以获得缺陷的真实图像C、面积型缺陷的检出率比体积型缺陷的检出率高D、适宜检验较薄的工件而不适宜较厚的工件
考题
DR检测技术与常规射线检测方法相比，其具有特点是（）A、检测效率高B、不需底片C、灵敏度高D、容易检出面积型缺陷
考题
射线检测对哪类缺陷的检出率受照相角度影响，容易漏检（）A、面积型缺陷
考题
A型试片型号中的分数值可代表能检出缺陷的实际大小。
考题
试述利用逐个检出法检出营养缺陷型的主要步骤及其原理。
考题
分别用夹层培养法和逐个检出法，从野生型和营养缺陷型混合菌液中检出营养缺陷型菌株
考题
分别用限量补充培养法和影印接种法，从野生型和营养缺陷型混合菌液中检出营养缺陷型菌株
考题
涡流方向与缺陷方向平行时，缺陷检出率（）。因此采用围绕式线圈检测管材或棒材时，周向裂纹缺陷的检出率（）。
考题
在特种设备无损检测方法中，（）对埋藏的气孔、夹渣等体积型缺陷检出率高。A、超声波检测B、射线检测C、磁粉检测D、渗透检测
考题
用任何方法作超声波探伤时，为有效地检出缺陷，应使超声波束与缺陷最大表面平行。
考题
简要介绍四种从混合菌液中检出营养缺陷型菌株的方法，并说明其共同原理。
考题
单选题射线检测对哪类缺陷的检出率受照相角度影响，容易漏检（）A
面积型缺陷
考题
多选题DR检测技术与常规射线检测方法相比，其具有特点是（）A检测效率高B不需底片C灵敏度高D容易检出面积型缺陷
考题
单选题在特种设备无损检测方法中，（）对埋藏的气孔、夹渣等体积型缺陷检出率高。A
超声波检测B
射线检测C
磁粉检测D
渗透检测
考题
单选题盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一，因为它关系到（）。A
检出平行于超声波束的缺陷B
检出位于锻件中心部位的小缺陷C
检出表面缺陷D
检出近表面的缺陷
考题
多选题射线探伤的优点是：（）。A检测结果有直接记录B可以获得缺陷的真实图像C面积型缺陷的检出率比体积型缺陷的检出率高D适宜检验较薄的工件而不适宜较厚的工件
考题
问答题试述利用逐个检出法检出营养缺陷型的主要步骤及其原理。
考题
判断题金属材料在交变磁场作用下产生涡流，根据涡流的大小和分布可检出铁磁性材料的缺陷，称这种检出缺陷的方法为磁粉探伤。A
对B
错
