考题
工件与检测线圈的同心度影响穿过式涡流探伤设备周向灵敏度。()
此题为判断题(对，错)。
考题
当线圈横截面积与被检工件截面之比＞2并＜10时称为（）。A、低充填因数线圈B、中充填因数线圈C、高充填因数线圈D、无限长螺管线圈
考题
用差动式线圈比较标准试样与被检工件时，仪器应用下列哪一项调节平衡？（）A、一个线圈中的标准试样B、一个线圈中的参考标准试样和另一个线圈中的合格工件C、一个线圈中工件
考题
用连续法检测时，检测灵敏度几乎不受被检工件材质的影响，仅与被检工件表面磁场强度有关。
考题
涡流探伤时，是根据检测线圈（）参数的变化来检出工件材质变化的，棒、管和线材通常可用（）式线圈检验。
考题
用连续法检测时，检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关，还受被检工件材质的影响。
考题
芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做：（）。A、斜角探伤B、液浸探伤；C、接触探伤D、穿透法探伤
考题
超声探伤，被检工件厚度大，应考虑灵敏度补偿。
考题
被检工件与检验线圈应对准中心，否则（）A、线圈会有不平衡B、工件离线圈径向最远的部分其检测灵敏度最低C、围绕工件的涡流流动将会产生失真D、缺少合适的对中可能会改变仪器的相位
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
考题
漏磁探伤中扫描方式取决于被检工件的（）、尺寸及检测标准要求。
考题
探头与被检工件表面直接接触的方法，可用来作（）。A、垂直法探伤B、表面波探伤C、斜射法探伤D、上述三者都可
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A、直射B、扫查C、反射D、折射
考题
穿过式涡流探伤设备周向灵敏度波动的大小只取决于工件与检测线圈的同心度。
考题
管棒材的涡流穿过式探伤中，检测线圈与工件的偏心可能会引起（）A、漏检B、误检C、两者都有D、无影响
考题
单选题被检工件与检验线圈应对准中心，否则（）A
线圈会有不平衡B
工件离线圈径向最远的部分其检测灵敏度最低C
围绕工件的涡流流动将会产生失真D
缺少合适的对中可能会改变仪器的相位
考题
填空题漏磁探伤中扫描方式取决于被检工件的（）、尺寸及检测标准要求。
考题
判断题用连续法检测时，检测灵敏度几乎不受被检工件材质的影响，仅与被检工件表面磁场强度有关。A
对B
错
考题
判断题用连续法检测时，检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关，还受被检工件材质的影响。A
对B
错
考题
单选题芯片表面与被检材料表面不平行的超声探伤技术叫做：（）。A
斜角探伤B
液浸探伤；C
接触探伤D
穿透法探伤
考题
单选题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A
直射B
扫查C
反射D
折射
考题
判断题在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A
对B
错
考题
填空题检测线圈与被检工件相对运动的探伤叫做（）
考题
单选题管棒材的涡流穿过式探伤中，检测线圈与工件的偏心可能会引起（）A
漏检B
误检C
两者都有D
无影响
考题
单选题NB/T47013.3-2015标准关于对比试块的规定，错误的是（）A
对比试块与被检件或材料化学成份相似B
试块的外形尺寸能代表被检工件的特征C
对比试块的厚度与被检工件厚度相对应，涉及到不同工件厚度对接接头检测，试块厚度选择应由其较大工件厚度确定D
对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准