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题目内容
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尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。
- A、呈75°角且平滑的缺陷
- B、呈75°角且粗糙的缺陷
- C、呈90°角且平滑的缺陷
- D、相垂直且粗糙的缺陷
参考答案
更多 “尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷” 相关考题
考题
下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是()
A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
考题
同样直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100,200和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的是哪一个深度上的平底孔()
A、100mmB、200mmC、300mmD、应相同
考题
处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（ ）。A.与前者一样B.比前者低C.比前者高D.比前者高而且显示位置提前
考题
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷
考题
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
考题
在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）A、等于Φ2mm平底孔B、比Φ2mm平底孔大C、比Φ2mm平底孔小D、大于等于Φ2mm平底孔
考题
单选题一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A
相同B
增高C
降低D
延长
考题
单选题在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）A
等于Φ2mm平底孔B
比Φ2mm平底孔大C
比Φ2mm平底孔小D
大于等于Φ2mm平底孔
考题
单选题探测面光洁度分别△2和△1的两个试块中，具有直径、取向、距离都相同的横通孔，在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面，则回波高度：（）A
相同B
△2的比△1的高C
△1的比△2的高D
上述都不是
考题
单选题同直径的三个平底孔处于同一试块中，但深度分别为100、200和300mm，在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时，回波最高的平底孔深度为（）。A
100mmB
200mmC
300mmD
都相同
考题
单选题处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷，在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时，后者的回波高度（）。A
与前者一样B
比前者低C
比前者高D
比前者高而且显示位置提前
考题
判断题以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。A
对B
错
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