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用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。

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考题 长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定
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考题 用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
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考题 用平晶测量平面度误差时应如何评定？
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考题 测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
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考题 检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
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考题 在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
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考题 如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
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考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
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考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
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考题 以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
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考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
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考题 在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。A、变凹B、变凸C、不变
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考题 测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
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考题 判断题若某平面的平面度误差为f，则该平面对基准平面的平行度误差大于f。A 对B 错
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考题 单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉
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