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在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ，其干扰电流是怎样形成的？
参考答案
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考题
在冲击试验中，快速变化的电压、电流形成的电磁场是产生干扰的主要原因，它对测量仪器产生干扰的途径，下列叙述中哪一个不恰当（）A、电缆外皮流过电流时造成的干扰B、空间电磁波对测量仪器产生干扰C、从电源回路引入的干扰D、从接地回路引入的干扰
考题
现场用电桥测量介质损耗因数，出现－tgδ的主要原因：①标准电容器CN有损耗，且tgδN＞tgδx；②电场干扰；③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响；④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
考题
在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目（）的说法是错的。A、选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上B、外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性C、变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差D、“过零比较”检测方法：测量结果的分散性稍大
考题
在有强电场干扰的现场，测量试品介质损耗因数tgδ，有多种抗干扰测量方法，并各有一定的局限性，但下列项目（）的说法是错的。A、选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上B、外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性C、变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差
考题
用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰，需要先在试验电源正、反相两种极性下，测量两组数据：C1tgδ1、C2tgδ2，然后按公式（）计算出试品的实际的tgδ值。A、tgδ=（tgδ1+tgδ2）/2B、tgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1-C2）C、tgδ=（C1tgδ1+C2tgδ2）/（C1+C2）D、tgδ=（C2tgδ1+C1tgδ2）/（C1+C2）
考题
现场用电桥测量介质损耗因数，出现负数的可能原因是（）。A、标准电容器有损耗B、外部电场干扰C、试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响D、空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
考题
判断题测量电气设备介质损耗角正切值tanδ时，消除电场干扰影响的方法中使用移相器改变试验电压的相位，在试验电流与干扰电流相同和相反两种情况下分别测量tanδ的方法称为移相法。A
对B
错
考题
单选题两带电体之间寄生（）耦合所形成的干扰称为静电场A
电压B
电流C
电容D
电量
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