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流程位于规格中心，样本数据遵从正态分布，规格限也处于正负3个sigma，则流程的Cp是？（）
- A、0.33
- B、1.0
- C、1.33
- D、1.67
参考答案
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考题
某零件生产流程,客户给定了零件尺寸规格,请问该流程的标准差与西格玛水平之间的关系是:()
A.标准差越大时，西格玛水平越低，超过规格限的缺陷品越多B.标准差越大时，西格玛水平越低，超过规格限的缺陷品越少C.标准差越大时，西格玛水平越高，超过规格限的缺陷品越多D.标准差越大时，西格玛水平越高，超过规格限的缺陷品越少
考题
下列哪一个关于统计流程控制的陈述是错的()
A.当流程不受特殊原因影响时，一个流程是在统计控制之下B.当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，一个流程是在统计控制之下C.当控制限落在客户规格限内时，一个流程是在统计控制下D.当流程仅受一般原因变异的影响时，一个流程是在统计控制之下
考题
()是用来定义数据流程图中的各个成分的具体含义的,它和数据流图共同构成了软件系统的逻辑模型,是软件需求规格说明书(也被称为系统规格说明书或系统分析报告)的组成部分。A.数据存储B.数据字典(DD)C.数据流条目
考题
使用控制图对具有双侧规格限的质量特性值进行控制，中心线位于规格中心，计算出的过程能力指数CP>1，下列推断中，正确的有（）。
A.上下规格限与上下控制限重合 B.上规格限位于上控制限上方
C.下规格限位于下控制限上方 D.此时Cpk=Cp
E.此时过程的不合格品率高于1%
考题
关于Xbar图，不正确的是（）A、控制限的宽度通常是正负3个流程的标准差B、控制限宽度与样本大小的平方根成反比C、如果流程受控，每百万个机会中会有2700个落出控制上下限的机会D、如果流程受控，一半的点会落在中心线以下
考题
下列对流程的陈述中错误的是（）A、当流程不受特殊因素影响时，流程在统计受控状态下B、当控制限落在客户规格限内时，流程是在统计受控状态下C、当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程是在统计受控之下
考题
某零件生产流程，客户给定了零件尺寸规格，请问该流程的标准差与六西格玛水平之间的关系时（）A、标准差越大时，西格玛水平越低，超过规格限的缺陷品越多缺陷数多B、标准差越小时，西格玛水平越低，超过规格限的缺陷品越多C、标准差越大时，西格玛水平越高，超过规格限的缺陷品越多D、标准差越大时，西格玛水平越高，超过规格限的缺陷品越少
考题
下列对流程的陈述中错误的是（）A、当流程不受特殊因素影响时，流程处于统计受控状态下B、当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，流程处于统计受控状态下C、当控制限落在客户规格限内时，流程处于统计受控状态下D、当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程处于统计受控之下
考题
单选题下列对流程的陈述中错误的是（）A
当流程不受特殊因素影响时，流程处于统计受控状态下B
当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时，流程处于统计受控状态下C
当控制限落在客户规格限内时，流程处于统计受控状态下D
当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程处于统计受控之下
考题
单选题假如某零件生产流程，客户对该零件的尺寸非常关注，当客户的规格已经确定时，请问该过程的标准差（standardDeviation）与Sigma水平（SigmaLevel）之间的关系是：（）A
标准差越大时，Sigma水平越低，超出规格限的缺陷品越多B
标准差越大时，Sigma水平越低，超出规格限的缺陷品越少C
标准差越大时，Sigma水平越高，超出规格限的缺陷品越多D
标准差越大时，Sigma水平越高，超出规格限的缺陷品越少
考题
单选题下列对流程的陈述中错误的是（）A
当流程不受特殊因素影响时，流程在统计受控状态下B
当控制限落在客户规格限内时，流程是在统计受控状态下C
当流程仅受偶然原因变异的影响时，流程是在统计受控之下
考题
单选题关于Xbar图，不正确的是（）A
控制限的宽度通常是正负3个流程的标准差B
控制限宽度与样本大小的平方根成反比C
如果流程受控，每百万个机会中会有2700个落出控制上下限的机会D
如果流程受控，一半的点会落在中心线以下
考题
单选题需求分析的产品是（）A
数据流程图案B
数据字典C
判定表D
需求规格说明书
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