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填空题
在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关

参考答案

参考解析
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考题 磁粉探伤时,缺陷显露是否明显和缺陷与磁力线的相对位置有关,与磁力线相()缺陷显现的最清楚。 A、平行B、垂直C、倾斜D、平行和倾斜

考题 磁粉探伤只适用于探测铁磁性材料和工件的缺陷。

考题 在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度有关

考题 下列关于缺陷漏磁通的叙述,正确的是()A、与试件上总的磁通密度有关B、与缺陷自身高度有关C、磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大D、以上都对

考题 在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度无关

考题 下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的A、磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关B、缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小C、在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E、当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响F、c,d和e都对

考题 在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关

考题 下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述中哪个是正确的()A、它与试件上的磁通密度有关B、它与缺陷的高度有关C、磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大D、以上都对

考题 在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关

考题 在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关

考题 磁粉探伤时缺陷处产生的漏磁通与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关。

考题 在磁粉探伤中,为能有效地检出环行工件圆周方向的缺陷,选用磁化方法时应用()。

考题 磁粉探伤中,工件中缺陷与漏磁场方向垂直时漏磁场强度最大。

考题 磁粉探伤为了检出工件表面的微小缺陷,最好选用粒度()的磁粉。

考题 磁粉探伤中,当工件被磁化以后在表面缺陷处会产生的现象是()。A、无特殊现象存在B、形成漏磁场C、磁力线无法通过缺陷而产生反射现象D、磁力线在缺陷上产生透射和折射现象

考题 磁粉探伤时,缺陷处产生的漏磁通与通过工件()有关,与缺陷的()和()有关。

考题 填空题磁粉探伤时缺陷处产生的漏磁通与通过工件的()有关,与缺陷的()和()有关。

考题 单选题下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述中哪个是正确的()A 它与试件上的磁通密度有关B 它与缺陷的高度有关C 磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大D 以上都对

考题 填空题磁粉探伤为了检出工件表面的微小缺陷,最好选用粒度()的磁粉。

考题 填空题磁粉探伤时,缺陷处产生的漏磁通与通过工件()有关,与缺陷的()和()有关。

考题 判断题在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度有关A 对B 错

考题 判断题在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向有关A 对B 错

考题 判断题在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关A 对B 错

考题 判断题在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的磁通密度无关A 对B 错

考题 填空题在磁粉探伤时,缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的()有关;与缺陷的()和()有关

考题 单选题下列关于缺陷漏磁通的叙述,正确的是()A 与试件上总的磁通密度有关B 与缺陷自身高度有关C 磁化方向与缺陷垂直时漏磁通最大D 以上都对

考题 单选题下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的A 磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关B 缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小C 在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D 交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E 当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响F c,d和e都对

考题 单选题磁粉探伤中,当工件被磁化以后在表面缺陷处会产生的现象是()。A 无特殊现象存在B 形成漏磁场C 磁力线无法通过缺陷而产生反射现象D 磁力线在缺陷上产生透射和折射现象