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芯片镀膜生产车间每小时抽5片芯片测量其镀膜的厚度，共检测了48小时，获得240个数据。经趋势图分析发现，各小时5片镀膜厚度之均值大体是稳定的，数据也服从正态分布。但发现各小时内的差异较小，但各小时间差异较大。六西格玛团队对如何进行SPC（统计过程分析）发生了分歧。正确的意见是：（）
- A、变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPC
- B、其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差（X一MR）控制图即可
- C、求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差（X一八妞）控制图外，再绘制各小时的极差（R）控制图，三张控制图同时使用即可控制过程
- D、解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图
参考答案
更多 “芯片镀膜生产车间每小时抽5片芯片测量其镀膜的厚度，共检测了48小时，获得240个数据。经趋势图分析发现，各小时5片镀膜厚度之均值大体是稳定的，数据也服从正态分布。但发现各小时内的差异较小，但各小时间差异较大。六西格玛团队对如何进行SPC（统计过程分析）发生了分歧。正确的意见是：（）A、变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPCB、其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差（X一MR）控制图即可C、求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差（X一八妞）控制图外，再绘制各小时的极差（R）控制图，三张控制图同时使用即可控制过程D、解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图” 相关考题
考题
在性佳牌手机生产车间,要检测手机的抗脉冲电压冲击性能。由于是破坏性检验,成本较高,每小时从生产在线抽一部来作检测,共连续监测4昼夜,得到了96个数据。六西格玛团中,王先生主张对这些数据画“单值－移动极差控制图”,梁先生主张将3个数据当作一组,对这32组数据作“Xbar－R控制图”。这时你认为应使用的控制图是:
A.只能使用单值-移动极差控制图B.只能使用“Xbar-R控制图”C.两者都可以使用，而以“Xbar-R控制图”的精度较好D.两者都可以使用，而以“单值-移动极差控制图”的精度较好
考题
某车间利用巡检数据作控制图，以分析和监测产品的某关键质量特性的波动情况。按照作业指导书的规定，巡检人员每小时从生产线上抽一件产品检验，连续检测13个工作班次，共得到104个计量值数据。适宜使用的控制图是( )。A．均值—极差控制图B．p控制图C．单值—移动极差控制图D．“均值一极差控制图”或“单值一移动极差控制图”
考题
芯片镀膜生产车间每小时抽5片芯片测量其镀膜的厚度,共检测了48小时,获得240个数据。经趋势图分析发现,各小时5片镀膜厚度之均值大体是稳定的,数据也服从正态分布。但发现各小时内的差异较小,但各小时间差异较大。六西格玛团队对如何进行SPC(统计过程分析)发生了分歧。正确的意见是:()
A.变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPCB.其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差(I-MR)控制图即可C.求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差(X-MR)控制图外,再绘制各小时的极差(R)控制图，三张控制图同时使用即可控制过程D.解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图
考题
H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ(微米)。测厚仪在05年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看,这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显着差异。总之，整个测量系统的准确性(Accuracy)、精确性(Precision)及稳定性(Stability)都是合格的。这里“此测量系统的准确性(Accuracy)是合格的”指的是：()A.这30天所有的数据点都落入控制限范围内。B.X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10%，满足%GR&R(P/TV)要求。C.S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10%，满足P/T要求。D.对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显着差异。
考题
下面关于CSM芯片的描述,正确的是()。
A.CSM6700芯片处理能力，前向256horespower，反向285horespowerB.CSM6800是业务数据处理芯片，负责对前向数据调制，对反向数据解调、解码等功能C.数据业务占用CSM5500/6800前反向各一个CED.一块QCK3CCPM包含一块CSM6700芯片
考题
某车间利用巡检数据作控制图，以分析和监测产品的某关键质量特性的波动情况。按照作业指导书的规定，巡检人员每小时从生产线上抽一件产品检验，连续检测13个工作班次，共得到104个计量值数据。适宜使用的控制图是（ ）。
A.均值一极差控制图
B. p控制图
C.单值一移动极差控制图
D. “均值一极差控制图”或“单值一移动极差控制图”
考题
当玻璃幕墙采用热反射镀膜玻璃时允许使用下列哪一组？Ⅰ.在线热喷涂镀膜玻璃；Ⅱ.化学凝胶镀膜玻璃；Ⅲ.真空蒸着镀膜玻璃；Ⅳ.真空磁控阴极溅射镀膜玻璃( )A.Ⅰ、Ⅱ
B.Ⅰ、Ⅲ
C.Ⅰ、Ⅳ
D.Ⅲ、Ⅳ
考题
某车间利用巡检数据作控制图，以分析和监测产品的某关键质量特性的波动情况。按照作业指导书的规定，巡检人员每小时从生产线上抽一件产品检验，连续检测13个工作班次，共得到104个计量值数据。适宜使用的控制图是（）。A、均值-极差控制图B、p控制图C、单值-移动极差控制图D、“均值-极差控制图”或“单值-移动极差控制图”
考题
H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看，这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之，整个测量系统的准确性（Accuracy）、精确性（Precision）及稳定性（Stability）都是合格的。这里“此测量系统的准确性（Accuracy）是合格的”指的是（）。A、这30天所有的数据点都落入控制限范围内B、X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足GRR要求C、S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足P/T要求D、对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异
考题
在为芯片镀膜的生产过程中，膜厚是关键尺寸。为了监控镀膜的厚度，每间隔1小时在生产线上终端抽取1片芯片，每片测量3行3列共9个固定位置处的厚度并作为一个子组数据，希望建立相应有效的控制图，最佳的选择是：（）A、X-R控制图B、X-S控制图C、单值移动极差控制图。D、C图或U图。
考题
芯片镀膜是某企业生产中关键的一步，为此必须对于镀膜厚度进行监控。通常将芯片固定在测试台后，由中心向外每45度画出射线将芯片分为等面积的8个扇形区域，在每个扇形内任意选取一点，测量出这8个点的厚度。现在生产已经相当稳定，为了维持它的稳定性，决定对于厚度的均值及波动都进行检测。这时，按国家标准的规定，控制图应该选用：（）A、使用Xbar-R控制图B、使用Xbar-S控制图C、使用p图或np图D、使用C图或U图
考题
为了判断A车间生产的垫片的变异性是否比B车间生产的垫片的变异性更小，各抽取25个垫片后，测量并记录了其厚度的数值，发现两组数据都是正态分布。下面应该进行的是（）A、等方差检验B、双样本T检验C、单样本T检验
考题
单选题H车间质量监督部门负责测量芯片镀膜厚度，其生产规格是500±50μ（微米）。测厚仪在11年2月10日曾由上级主管部门进行过校准。为了监测此测厚系统的性能，从3月1日开始，每天早晨正式工作前，先对一个厚度为500μ的标准片连续测量5次，坚持检测30天，记录测量的偏差值，共得到150个数据。从数据上看，这30天的状况是受控的，所有的点都落入控制限范围内。计算后得知，这150个偏差值数据的平均值X=0.94μ，标准差为S=1.42μ，经单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异。总之，整个测量系统的准确性（Accuracy）、精确性（Precision）及稳定性（Stability）都是合格的。这里“此测量系统的准确性（Accuracy）是合格的”指的是（）。A
这30天所有的数据点都落入控制限范围内B
X=0.94μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足GRR要求C
S=1.42μ这个结果与公差限范围±50μ相比，小于10％，满足P/T要求D
对于150个数据进行单样本T检验，未发现偏差值之均值与0有显著差异
考题
单选题当玻璃幕墙采用热反射镀膜玻璃时，允许使用下列哪一组玻璃? (1)在线热喷涂镀膜玻璃(2)化学凝胶镀膜玻璃 (3)真空蒸着镀膜玻璃(4)真空磁控阴极溅射镀膜玻璃A
(1)、(2)B
(1)、(3)C
(1)、(4)D
(3)、(4)
考题
单选题在性佳牌手机生产车间，要检测手机的抗脉冲电压冲击性能。由于是破坏性检验，成本较高，每小时从生产线上抽一部来作检测，共连续监测4昼夜，得到了96个数据。六西格玛团队中，王先生主张对这些数据画“单值-移动极差控制图”，梁先生主张将3个数据当作一组，对这32组数据作“Xbar-R控制图”。这时你认为应使用的控制图是（）.A
只能使用“单值-移动极差控制图”，B
只能使用“Xbar-R控制图”。C
两者都可以使用，而以“Xbar-R控制图”的精度较好。D
两者都可以使用，而以“单值-移动极差控制图”的精度较好。
考题
单选题在为芯片镀膜的生产过程中，膜厚是关键尺寸。为了监控镀膜的厚度，每间隔1小时在生产线上终端抽取1片芯片，每片测量3行3列共9个固定位置处的厚度并作为一个子组数据，希望建立相应有效的控制图，最佳的选择是：（）A
X-R控制图B
X-S控制图C
单值移动极差控制图。D
C图或U图。
考题
单选题芯片镀膜是某企业生产中关键的一步，为此必须对于镀膜厚度进行监控。通常将芯片固定在测试台后，由中心向外每45度画出射线将芯片分为等面积的8个扇形区域，在每个扇形内任意选取一点，测量出这8个点的厚度。现在生产已经相当稳定，为了维持它的稳定性，决定对于厚度的均值及波动都进行检测。这时，按国家标准的规定，控制图应该选用：（）A
使用Xbar-R控制图B
使用Xbar-S控制图C
使用p图或np图D
使用C图或U图
考题
单选题为了判断A车间生产的垫片的变异性是否比B车间生产的垫片的变异性更小，各抽取25个垫片后，测量并记录了其厚度的数值，发现两组数据都是正态分布。下面应该进行的是（）A
等方差检验B
双样本T检验C
单样本T检验
考题
多选题镜片膜层质量的好坏与（）有关A膜层材料的质量B镀膜的均匀程度C膜层的厚度D镀膜工艺的好坏
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