考题
利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区
考题
H-1型半圆试块（）。A、可调整探测范围B、可测定直探头距离幅度特性C、可测定斜探头的入射角和折射角D、A与C都对
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。
考题
用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
考题
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。A、不变B、变化C、有条件的变化D、都不对
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
能够改变入射角的探头叫（）探头。A、纵波B、横波C、斜角D、可变角
考题
在不退轴承或轴承内圈情况下，探测轴颈卸荷槽裂纹时，如何用9°～11°小角度纵波探头、TZS-R标准试块进行标距测定？
考题
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
TB/T2340—2000标准中规定，测定钢轨超声波探伤仪70°探头通道的灵敏度余量应在（）试块上进行。
考题
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
考题
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
考题
单选题用标准试块测定斜角探头的实际入射角与规定角度间的偏差不大于（）A
2°B
3°C
4°D
5°
考题
单选题能够改变入射角的探头叫（）探头。A
纵波B
横波C
斜角D
可变角
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
问答题在不退轴承或轴承内圈情况下，探测轴颈卸荷槽裂纹时，如何用9°～11°小角度纵波探头、TZS-R标准试块进行标距测定？
考题
判断题用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。A
对B
错
考题
问答题用CSK-1A试块可测定仪器和探头的哪些组合性能指标？
考题
单选题H-1型半圆试块（）。A
可调整探测范围B
可测定直探头距离幅度特性C
可测定斜探头的入射角和折射角D
A与C都对
考题
填空题TB/T2340—2000标准中规定，测定钢轨超声波探伤仪70°探头通道的灵敏度余量应在（）试块上进行。
考题
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A
不变B
变化
考题
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A
不变B
变化
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A
直探头的的远场分辨力B
斜探头的K值C
斜探头的入射点D
斜探头的声束偏斜角