考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
考题
用CSK—1A试块测定的折射角，在探测任何声速工件时，其折射角不变。（ ）此题为判断题(对，错)。
考题
H-1型半圆试块（）。A、可调整探测范围B、可测定直探头距离幅度特性C、可测定斜探头的入射角和折射角D、A与C都对
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
考题
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。A、不变B、变化C、有条件的变化D、都不对
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
用CSK—1A试块测定的折射角，在探测任何声速工件时，其折射角不变。
考题
用折射角45°的探头，一次波法探测厚度为100mm的试件，若有机玻璃斜楔中的声程为15mm，则最大测距相当钢中纵波声程（）。
考题
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
考题
国际焊接学会的IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
考题
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
单选题H-1型半圆试块（）。A
可调整探测范围B
可测定直探头距离幅度特性C
可测定斜探头的入射角和折射角D
A与C都对
考题
问答题国际焊接学会的 IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？
考题
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A
对B
错
考题
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A
不变B
变化
考题
单选题70°探头折射角测定应（）。A
在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B
在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C
在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D
在半圆试块上测定
考题
填空题用折射角45°的探头，一次波法探测厚度为100mm的试件，若有机玻璃斜楔中的声程为15mm，则最大测距相当钢中纵波声程（）。
考题
判断题用CSK—1A试块测定的折射角，在探测任何声速工件时，其折射角不变。A
对B
错
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A
直探头的的远场分辨力B
斜探头的K值C
斜探头的入射点D
斜探头的声束偏斜角