考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
考题
联合双直探头的最主要用途是：（）A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷探伤
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
通常所称的流动缺陷回波是指用直探头探测到的。
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
考题
纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。
考题
在超声波探伤中，斜探头主要用于探测什么缺陷？
考题
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
考题
直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、呈90°
考题
斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
考题
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
考题
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
考题
斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
考题
通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头
考题
填空题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
考题
判断题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A
对B
错
考题
单选题联合双直探头的最主要用途是：（）A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷探伤
考题
单选题直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A
平行B
垂直C
倾斜D
呈90°
考题
判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A
对B
错
考题
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A
单斜探头法B
单直探头法C
双斜探头前后串列法D
分割式双直探头法
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷
考题
填空题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
考题
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A
探测近表面缺陷B
精确测定缺陷长度C
精确测定缺陷高度D
用于表面缺陷检测